産業用

高信頼性製品 – 技術資料

エレクトロニクスのための放射線ハンドブック

TI の『エレクトロニクスのための放射線ハンドブック』は、放射線がエレクトロニクスに及ぼす影響に関する包括的なガイドです。TI のエキスパート・チームが数十年にわたって蓄積してきた知識に基づいて構築した、この 100 ページ以上の e-book(PDF)は、設計に関連する最新の検討事項を掲載しており、宇宙、産業用、自然環境の各アプリケーションに携わるエンジニアの皆様のお役に立ちます。設計に携わった経験の有無や程度にかかわらず、以下の事項を確認できます。

  • 放射線環境の概要、IC デバイスに及ぼす影響、その影響を緩和する方法
  • 放射線認定を取得するうえで必要な試験、手順、要件
  • TI の宇宙グレード IC 製品ラインアップを採用する場合の利点 

少しでもご興味がおありでしたら、今すぐ放射線ハンドブックのプレビューをご覧ください。  

Radiation Handbook for Electronics

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著者について

ロバート・バウマン、TI 名誉フェロー、チーフ・テクノロジスト

ロバートは、特定の IC 層において低エネルギーの宇宙線中性子が 10B と反応を起こすと信頼性への重大なリスクが生じることを発見し、製品の故障率を直接 10 分の 1 にする低減スキームを開発しました。

 

TI における 29 年のキャリアの中で、放射線効果の革新を工業界に何度も巻き起こし、国際標準の開発や米国輸出管理法の改正を担当したほか、TI ダラスおよび日本 TI のさまざまなグループでテクニカル・リーダーを歴任しました。TI および IEEE フェローに選出されており、共著/単著による論文は 90 を超え、書籍に 2 つの章を寄稿、15 の米国特許を保有しています。> 2018 年に TI を退職しました。

ロバート・バウマン

カービィ・クルックマイヤー、テクニカル・スタッフ・シニア・メンバー

およそ 40 年にわたるナショナル・セミコンダクター/テキサス・インスツルメンツでのキャリアの中で、カービィは半導体テクノロジーの幅広い分野で経験を積み、エレクトロニクスにおける放射線効果の専門知識を習得しました。 ウェハー処理、半導体物理学、放射線強化処理、ELDRS フリー処理、設計および革新的な放射線試験技法による放射線強化に取り組み、多大な寄与をもたらしています。

カービィ・クルックマイヤー

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タイトル
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日付
Data-rate independent half-duplex repeater design for RS-485 PDF 176 02 Oct 2018
LDO as a Load Switch PDF 415 01 Aug 2018
TI Space Rated FPGA Power Solutions PDF 796 27 Jul 2018

セレクション・ガイド

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タイトル
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日付
TI Space Products PDF 5596 15 May 2019
Enhanced Products Guide PDF 2043 29 Apr 2015
HiRel Space Guide PDF 1266 08 Jul 2014

放射線と信頼性レポート

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タイトル
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日付
TPS50601A-SP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report PDF 2286 30 May 2019
LM239AMPWREP Reliability Report PDF 682 18 Feb 2019
Single-Event Effects Test Report of the TPS50601A-SP Synch Step-Down Converter PDF 1005 05 Feb 2019