プレシジョン・ラボ

TI プレシジョン・ラボ・トレーニング・シリーズは理論の解説と実践的な演習で構成されており、迅速な専門技術知識の習得と能力開発を可能にします。このオンデマンド・カリキュラムはモジュール形式の 40 以上の実践的トレーニング教材とラボ・ビデオで構成されており、オンライン学習コースによりアンプ設計の検討事項を学ぶことができます。

ハンズオン・ラボのモジュールでは National Instruments VirtualBench™(英語)TI Precision Labs - Op Amps Hardware Evaluation Module(英語)を使用します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプのコースで取り上げる推奨シミュレータ TINA-TI のダウンロードとインストール

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概要

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: イントロダクション(英語)

TI プレシジョン・ラボは業界初のアナログ・エンジニア向けの包括的なオンライン・トレーニング講座です。オンデマンド・カリキュラムは理論の解説と実践的な演習で構成されており、迅速な専門技術知識の習得と能力開発を可能にします。TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ(英語)のカリキュラムの概要を説明したビデオです。

  • ビデオ講座の概要
  • 対象エンジニア
  • 講座のユニークな特長
  • 受講のメリット

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: National Instruments VirtualBench™ Overview(英語)

TI プレシジョン・ラボは業界初のアナログ・エンジニア向けの包括的なオンライン・トレーニング講座です。オンデマンド・カリキュラムは理論の解説と実践的な演習で構成されており、迅速な専門技術知識の習得と能力開発を可能にします。受講は無料で、カリキュラムはモジュール方式を採用しています。30 以上のオンライン・ハンズオン・トレーニング・ビデオ講座では、アナログ・アンプを使用した回路設計の際の考慮事項を取り上げており、実際のラボでの演習も用意されています。


Input Voltage Offset (Vos) and Input Bias Current (Ib)(英語)

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Input Offset Voltage and Input Bias Current(英語)

オペアンプの DC 入力誤差に対する主な寄与要因を理解する方法は?

室温での入力電圧オフセットと入力バイアス電流の仕様を理解するのは非常に簡単ですが、温度が全体に影響を及ぼす場合、どんな現象が発生するでしょうか。これらのパラメータに関してデータシートのグラフの統計的な分布を正しく解釈し、全体的な誤差解析に正しく適用するための方法について解説しています。このセッションでは、オペアンプの DC 入力誤差に対する 2 つの重要な寄与要因である入力電圧オフセット(Vos)と入力バイアス電流(Ib)に関する理解を深めることができます。単に仕様だけではなく、さまざまな入力段トポロジーや半導体プロセス技術が Vos と Ib に及ぼす影響を詳しく考察します。

このシリーズでは、オペアンプの入力電圧オフセットと入力バイアス電流の理論を取り上げ、その理論をもとに、TINA-TI 回路シミュレーションと、試験機器による実際の回路を使用した実験を行います。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Vos and Ib(英語)

このビデオ・シリーズはオペアンプの入力オフセット電圧と出力制限の2 つのテーマを取り上げており、まず初めにオペアンプの VOS 仕様、全温度範囲での VOS ドリフト、入力バイアス電流仕様、全温度範囲での入力バイアス電流ドリフトについて説明します。また、TI の各種オペアンプの広範な VOS と IB も取り上げます。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Vos and Ib - Lab(英語)

次のテーマは詳細な計算法、SPICE シミュレーション、実際の測定です。このビデオでは、オペアンプの VOS と IB に関する概念の理解を、実践を通じて深めることができます。


入力と出力制限

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Input and Output Limitations(英語)

クリッピングや他の非線形動作など、オペアンプの予期しない信号出力を経験したことはありますか?

入力コモンモード電圧の制限や出力電圧振幅制限が原因になっている可能性があります。実際の回路設計を想定しながらデータシートの仕様を理解すれば、こうした問題の発生を抑えることができます。プロセス技術によって異なるオペアンプの入出力段の詳細について考察すると、さらに理解が深まります。

このシリーズでは、オペアンプの入出力の振幅制限に関する理論を取り上げ、その理論をもとに、TINA-TI 回路シミュレーションと、試験機器による実際の回路を使用した実験を行います。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Input and Output Limitations(英語)

このシリーズではオペアンプの入出力制限について考察します。最初のビデオでは、オペアンプのコモンモード入力電圧、入出力電圧振幅制限について説明し、これらの制限によって生じる回路誤差の原因を解明する方法を示します。

TI プレシジョン・ラボ- オペアンプ: Input and Output Limitations - Lab(英語)

2 本目はラボに関するビデオで、詳細な計算法、SPICE シミュレーション、実際の測定を取り上げます。オペアンプの入出力に関する概念の理解を、実践を通じて深めることができます。

TI プレシジョン・ラボ - Op Amps: Input and Output Limitations 2(英語)

3 本目のビデオでは、アンプ内部に存在するコモンモード、入力電圧範囲、制限を引き起こすさまざまな要因の詳細について、さらに、各種オペアンプ入力トポロジーの長所/短所について解説します。

TI プレシジョン・ラボ - Op Amps: Input and Output Limitations 3(英語)

4 本目のビデオでは、バイポーラと CMOS の各出力段の違いや、出力負荷と温度が及ぼす影響など、出力振幅制限の詳細について説明します。最後に、短絡時出力保護の概念について紹介します。


消費電力と温度

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ:Power and Temperature(英語)

過熱はどのように発生するでしょうか。回路にヒートシンクは必要でしょうか。

このシリーズでは、オペアンプにおける電力損失と温度の関係について説明し、温度モデルを使用してさまざまな動作条件下でのアンプの接合部温度を計算する方法を示します。絶対最大定格と内部の過熱保護方式についても説明します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ:Power and Temperature(英語)

このシリーズでは、オペアンプにおける消費電力と温度の関係について説明します。DC と AC におけるアンプの電力損失について説明し、アンプの熱モデルを示した後、そのモデルを使用してアンプの接合部温度を計算します。さらに、アンプの絶対最大定格温度と内部の過熱保護方式についても説明します。


Bandwidth(英語)

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Bandwidth(英語)

オペアンプの帯域幅の計算時に常に非反転ゲインを使用する必要があることや、帯域幅が Iq に影響を及ぼす理由をご存知でしょうか。

上記の質問のほか、オペアンプの帯域幅について、ほぼすべての疑問に答えます。

  • 全周波数帯域におけるアンプ性能の予測のためにボード線図で Aol、ループ・ゲイン、1/β を使用する方法
  • 抵抗、コンデンサ、アンプの周波数の制限を使用し、ポールとゼロの位置を表す式を導く
  • ボード線図でポールとゼロをプロットするための実践的な技法と、クローズド・ループ帯域幅を求めるグラフィカル手法と数学的計算に関する説明
  • ボード線図とスコープの結果を使用し、時間ドメインがどのように周波数ドメインに関連しているかについて
  • アンプの内部回路を表す簡略化モデルを使用し、帯域幅と Iq の関係について理解

このビデオ・シリーズでは、オペアンプの帯域幅に関する理論を取り上げ、次に TINA-TI の回路シミュレーション機能を含むハンズオン・ラボにその理論を適用し、テスト装置を接続した実際の回路を使用して実験を行います。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Bandwidth 1(英語)

このシリーズはオペアンプの帯域幅に関連した 5 つのテーマで構成されています。最初のビデオではゲインを取り上げており、ゲインを直線的に、あるいはデシベル値で表現する方法について説明します。ポール、ゼロ、ボード線図、カットオフ周波数、帯域幅の定義についても説明します。最後に TINA-TI を使用して、帯域幅のシミュレーション結果と理論的な計算結果の相関関係を比較します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Bandwidth 2(英語)

2 本目のビデオでは開ループ・ゲインと閉ループ・ゲイン、ゲイン帯域幅積、静止電流と帯域幅の関係について説明します。また、回路の帯域幅に関するシミュレーションを実行し、計算結果との相関関係を比較しています。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Bandwidth 3(英語)

3 番目のビデオでは帯域幅と 2 次効果(高周波数のポール位置)を計算する際に常に非反転ゲインを使用する理由について説明します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Bandwidth 4(英語)

4 番目のビデオでは帯域幅に関連する 5 つのテーマについて説明します。

  1. Aol 曲線がゲインの帯域幅にどのような影響を及ぼすか
  2. オペアンプの入力容量による帯域幅制限の方法
  3. アンプ回路の周波数に対する実際的なゲインを計算する方法
  4. 帰還コンデンサを使用して、回路の帯域幅を意図的に制限する方法
  5. 全周波数帯域の応答に対するスルーレートの影響

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Bandwidth - Lab(英語)

5 番目のビデオでは詳細な計算、SPICE シミュレーション、実際の測定を行います。すでにビデオで説明したオペアンプの帯域幅に関する概念の理解を、実践を通じて深めることができます。


スルーレート

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Slew Rate(英語)

オペアンプの出力電圧の大幅で急速な変化は常にそのデバイスのスルーレートによって制限される、という仮説は正しいでしょうか。

この仮説が「正しい」とお考えの場合や、説明のつかない出力スルーレートの動作をこれまでに経験したことがある場合は、ぜひこのビデオをご覧ください。大信号と小信号に関する解析、スルー・ブースト、全温度範囲でのスルーレートの変化、フルパワー帯域幅対スルーレート、Vos とスルーレートの関係について説明します。さらに、スルーレート制限を引き起こすオペアンプの内部構造も示します。

このシリーズは、オペアンプのスルーレート理論を取り上げ、その理論をもとに、TINA-TI 回路シミュレーションと、試験機器による実際の回路を使用した実験を行います。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Slew Rate 1(英語)

このシリーズはオペアンプのスルーレートに関連した 4 つのテーマで構成されています。最初のビデオでは、スルーレートの背後にある理論について説明し、TI のさまざまなアンプのスルーレートと消費電流を比較します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Slew Rate 2(英語)

2 番目のビデオではボディ効果がスルーレートに及ぼす影響について説明し、セトリング・タイムに注目した後、アンプの小信号ステップ応答と大信号ステップ応答の違いについて解説します。さらに、小信号ステップ応答と安定性との関連について説明します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Slew Rate 3(英語)

3 番目のビデオでは小信号から大信号出力応答への遷移について詳細に検討します。また、ゲインが小信号出力応答と大信号出力応答に及ぼす影響についても取り上げます。最後に、オペアンプの過負荷復帰という概念について紹介します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Slew Rate - Lab(英語)

4 番目のビデオでは詳細な計算法、SPICE シミュレーション、実際の測定を行います。オペアンプのスルーレートに関する概念の理解を、実践を通じて深めることができます。


Common Mode Rejection and Power Supply Rejection(英語)

TI プレシジョン・ラボ - Op Amps: Common Mode Rejection and Power Supply Rejection(英語)

除去は望ましい特性になることがあります。特に、コモン・モード電圧または電源電圧の変動に起因する誤差が発生する場合です。

このビデオ・シリーズでは、オペアンプに印加されるコモン・モード電圧または電源電圧に変化を加えると、AC と DC の両方にどのように誤差が引き起こされる可能性があるかを説明し、オペアンプの内蔵コモン・モード除去機能と電源除去機能を使用して、これらの誤差をどのように緩和するかを示します。

TI プレシジョン・ラボ - Op Amps: Common Mode Rejection(英語)

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ・シリーズのトレーニング・ビデオでは、オペアンプに印加されるコモン・モード電圧に変化を加えると、AC と DC の両方にどのようにコモン・モード除去誤差が引き起こされるかを説明します。追加のトピックでは、入力電圧に変化を加えると、開ループ・ゲインにどのように誤差が引き起こされるか、またコモン・モード誤差と開ループ・ゲイン誤差を分離する方法を取り上げます。

TI プレシジョン・ラボ - Op Amps: Power Supply Rejection(英語)

この TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ・シリーズのトレーニング・ビデオでは、オペアンプに印加される電源電圧に変化を加えると、AC と DC の両方にどのように電源除去誤差が引き起こされるかを説明します。また、電源電圧に変化を加えると、どのようにコモン・モード電圧誤差が引き起こされる可能性があるかについても説明します。


Noise(英語)

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Noise(英語)

標準的な抵抗部品が机上で動作していなくても実際にはノイズを発生していることをご存じですか?

実際の回路で発生するノイズについて理解することは、システム全体のノイズ性能目標を実現する上で重要です。ただし、ノイズの計算は複雑であり、多くの場合はマニュアルで長時間、計算する必要があります。このシリーズを受講し、関連の演習を終了すれば、オペアンプのノイズに関してエキスパートになれます。ノイズ計算の複雑さを大幅に緩和する 5 つの「基本原則」を通じて、回路のノイズを短時間で計算できるようになります。また、マニュアル計算の結果を検証するために、回路シミュレーションを実行する方法も紹介します。オペアンプに関するノイズモデルが確立されていない場合でも心配する必要はありません。独自モデルを簡単に作成する方法を説明します。最後に、ノイズの試験方法を示し、実際のノイズ測定を行います。

このビデオ・シリーズでは、オペアンプのノイズ理論を取り上げ、その理論をもとに、TINA-TI 回路シミュレーションと、実際の回路を使用して試験機器による実験を行います。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Noise 1(英語)

このシリーズは、オペアンプのノイズに関連した 9 つのテーマで構成されています。計算とシミュレーションによってオペアンプのノイズを予測する方法と、ノイズを正確に測定する方法を紹介します。固有ノイズについて定義し、さまざまな種類のノイズについて解説するほか、ノイズ・スペクトル密度について説明します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Noise 2(英語)

2 番目のビデオではノイズに関する説明を続けます。まず、オペアンプの複数のノイズ領域を詳細に解説し、次に、スペクトル・ノイズ密度を RMS ノイズに変換する方法を取り上げます。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Noise 3(英語)

3 番目のビデオではシンプルなアンプ回路を使い、ノイズに関する包括的な計算を行います。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Noise 4(英語)

4 番目のビデオのテーマはシンプルなノイズ計算方法です。3 番目のビデオでは、非常にシンプルなオペアンプ回路を使い、ノイズに関する包括的な計算を行いました。実際の回路では、このようなマニュアル計算は時間がかかり、複雑になる可能性があります。このビデオでは、ノイズ計算をシンプルにするためのいくつかの基本原則を解説します。これらは支配的なノイズ源を識別し、あまり影響を与えないノイズ源を無視します。支配的なノイズ源を識別すると、システムのノイズ特性を迅速かつ効果的に改善する方法を理解できます。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Noise 5(英語)

これは、オペアンプのノイズについて考察する TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ(英語)の 9 つのビデオ・シリーズの 5 番目のビデオです。4 番目のビデオでは、ノイズ計算をシンプルにするためのいくつかの基本原則を紹介しました。このビデオでは、無料の SPICE シミュレーション・プログラムである Tina-TI を使用してノイズ・シミュレーションを実行する方法を紹介します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Noise 6(英語)

これは、オペアンプのノイズについて考察する TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ(英語)の 9 つのビデオ・シリーズの 6 番目のビデオです。5 番目のビデオでは、SPICE を使用したノイズ解析の基本を取り上げました。ノイズ・モデルの精度を確認する重要性について説明し、また、ネット・リストに注目してノイズがモデル内に含まれていることの確認を推奨しました。こビデオでは、ノイズ・モデルが正確であることの検証のためのより包括的な方法を紹介します。さらに、高精度のモデルがまだ存在していない場合に、独自のモデルを作成する方法を示します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Noise 7(英語)

これは、オペアンプのノイズについて考察する TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ(英語)の 9 つのビデオ・シリーズの 7 番目のビデオです。これまでのビデオで、計算とシミュレーションによってオペアンプのノイズ出力を予測する方法を学びました。7 番目のビデオではノイズ測定方法を取り上げます。ノイズ測定に使用する一般的な試験機器には、オシロスコープとスペクトラム・アナライザの 2 種類があります。このビデオでは、これらの機器の動作原理と、性能最適化のためのヒントとコツについて説明します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Noise 8(英語)

オペアンプのノイズについて考察する TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ(英語)の 9 つのビデオ・シリーズの 8 番目のビデオです。これまでのビデオで、ノイズの計算、シミュレーション、測定に関する方法を紹介してきましたが、このビデオでは、1/f ノイズ、つまりフリッカー・ノイズについて詳細に検討します。 特に、ほとんどのオペアンプ・データシートに含まれている 0.1 ~ 10Hz のノイズ・プロットについて説明します。このプロットの生成方法と重要性について説明した後、ゼロドリフト・アンプとの比較で、標準的なアンプでの長期間のノイズ測定を行った場合の違いについて解説します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Noise - Lab(英語)

9 番目のビデオでは詳細な計算法、SPICE シミュレーション、実際の測定を行います。オペアンプのノイズに関する概念の理解を、実践を通じて深めることができます。


低歪みの設計

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Low Distortion Design(英語)

歪みはリニア回路で解決が面倒な課題の 1 つです。何が原因で発生し、どのような方法で低減できるでしょうか。

このシリーズでは、アンプ内部と外部コンポーネント由来の歪みの発生源を紹介します。歪みを最小限に抑える設計方法についても説明します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Low Distortion Design 1(英語)

最初のビデオは、シリーズの概要を紹介した後、オペアンプの歪みに関する重要なトピックについて解説します。その目的はオペアンプ回路に存在する歪みの原因について理解し、歪みを最小化する方法を確認することです。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Low Distortion Design 2(英語)

2 番目のビデオでは、オペアンプ内部の入力段に起因する歪みの発生源について説明し、差動入力信号の振幅がもたらす影響や、コモンモード制限、コモンモード電圧の関数としての入力インピーダンスに注目します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Low Distortion Design 3(英語)

3 番目のビデオでは、内部の各種トポロジーがもたらす影響、出力負荷、クリッピングなど、オペアンプ内部の出力段に起因する歪みの発生源について説明します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Low Distortion Design 4(英語)

4 番目のビデオでは、抵抗、コンデンサ、電源インピーダンスなど、外部の歪み発生源について説明します。


Stability(英語)

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Stability(英語)

設計した回路で高精度の DC 出力が生成され、最終的に発振回路として動作したことがありますか。

このシリーズを受講すれば、そうした動作の再発防止のためのツールや情報を利用できるようになります。このシリーズでは安定性の基本理論を取り上げ、SPICE シミュレーションにその理論を適用し、実際の回路を使用して実験を行います。オペアンプの安定性に関する一般的な問題の発生原因と、安定性を向上させるための一般的な補償技法とそれに関連するトレードオフについても学びます。

オペアンプの安定性の理論を取り上げ、その理論をもとに、TINA-TI 回路シミュレーションと、試験機器による実際の回路を使用した実験を行います。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Stability 1(英語)

最初のビデオではオペアンプの安定性に関する一般的な問題の発生原因と、ラボで一般的に使用される機器を使って安定性に関する問題を特定する方法について説明します。

以降のビデオでは、ボード線図、安定性に関する基本理論、SPICE によるオペアンプの安定性のシミュレーション方法を取り上げ、特定の補償技法とソリューションの詳細分析について紹介します。

このシリーズでオペアンプの安定性に関して学ぶ前に、ぜひ、オペアンプの帯域幅に関する講座と問題セクション 1 ~ 3 を完了しておいてください。帯域幅のシリーズでは、安定性理論で使用するいくつかの重要な概念について詳細に説明しています。一方、安定性に関するビデオ・シリーズでは、これらの概念については簡単に触れているだけです。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Stability 2(英語)

これは、オペアンプの安定性について考察する TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ(英語)の 7 つのビデオ・シリーズの 2 番目のビデオです。最初のビデオでは、生産システムで発生する可能性のある、オペアンプの安定性に関する問題と、ラボで問題を特定する方法について説明しました。

このビデオでは、ボード線図と、位相マージンと rate of closure 分析を使用した基本的な安定性理論について簡単なレビューを行います。先に進む前に、これらの概念を包括的に理解しておくことが重要です。そのためには、ぜひ、オペアンプの帯域幅に関する講座と問題セクション 1 ~ 3 を完了しておいてください。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Stability 3(英語)

これは、オペアンプの安定性について考察する TI プレシジョン・ラボ - Op Amps(英語)の 7 つのビデオ・シリーズの 3 番目のビデオです。最初のビデオでは、生産システムで発生する可能性のある、オペアンプの安定性に関する問題と、ラボで問題を特定する方法について説明し、ボード線図と安定性理論についてレビューしました。

このビデオでは、オープン・ループの SPICE シミュレーションを実行して、オペアンプ回路の rate of closure と位相マージンを測定する方法を説明します。先に進む前に、ぜひ、オペアンプの帯域幅に関する講座と問題セクション 1 ~ 3 を完了しておいてください。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Stability 4(英語)

これは、オペアンプの安定性について考察する TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ(英語)の 7 つのビデオ・シリーズの 4 番目のビデオです。これまでのビデオで、回路の位相マージンと rate of closure について説明し、SPICE を使用してそれらを測定する方法について解説しました。

このビデオでは、SPICE で間接的な位相マージン測定を行う方法について説明します。さらに、ベンチ(実際の回路)で時間ドメインと AC 周波数ドメインを測定することにより、間接的に位相マージンを割り出す行う方法について解説します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Stability 5(英語)

これは、オペアンプの安定性について考察する TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ(英語)の 7 つのビデオ・シリーズの 5 番目のビデオです。これまで、安定性に関する基本理論の概念と、SPICE とベンチで安定性についてテスト / シミュレーションする方法について説明しました。このビデオでは、容量性負荷が安定性に問題を引き起こす原因について説明し、さらに、絶縁抵抗を使用し、容量性負荷補償を行うための最初の方法について解説します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Stability 6(英語)

6 番目のビデオではデュアル・フィードバック安定性補償方法とともに絶縁抵抗について説明します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Stability - Lab(英語)

7 番目のビデオでは詳細な計算、SPICE シミュレーション、実際の測定を行います。安定性に関する概念の理解を、実践を通じて深めることができます。


静電気放電(ESD)

TI プレシジョン・ラボ - Electrostatic Discharge (ESD)(英語)

皆さんの指先に数千ボルトの電圧が伝わる可能性がありますが、それに対する保護措置は取られていますか?

このシリーズでは、静電気放電(ESD) が半導体部品にどのような形で損傷を及ぼすか、また、こうしたデバイスにどのような種類の保護回路が内蔵されているかを説明します。

TI プレシジョン・ラボ - Electrostatic Discharge ESD(英語)

このビデオでは静電気放電(ESD)について説明します。ESD が半導体部品にどのような形で損傷を及ぼすかを説明します。また、半導体デバイスに内蔵されている ESD 保護回路の詳細についても解説します。最後に、ESD 特性のキャラクタライゼーションを行い、デバイスの堅牢性を理解する方法を示します。

Electrical Overstress (EOS)(英語)

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Electrical Overstress (EOS)(英語)

臭いが発生しています。「スモーク・テスト」が失敗したのが原因です。その理由は?

このシリーズでは、電気的オーバーストレスの原因と、それを防ぐ回路の堅牢性向上法と堅牢性のテスト方法についていくつか取り上げます。すべての例でオペアンプ回路を使用しますが、紹介する方法は他の部品にも適用できます。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Electrical Overstress (EOS) 1(英語)

最初のビデオでは電気的オーバーストレスの原因と、それを防ぐ回路の堅牢性向上法と堅牢性のテスト方法についていくつか取り上げます。すべての例でオペアンプ回路を使用しますが、紹介する方法は他の部品にも適用できます。これ以降のビデオでは、部品値の選択法の詳細や、電気的オーバーストレスに対する堅牢性確認のための試験法を紹介します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Electrical Overstress (EOS) 2(英語)

2 番目のビデオでは双方向 TVS ダイオード、フェライト・ビーズ、RC フィルタなど、EOS 保護のために使用される複数のデバイスについて取り上げます。また、EOS 現象の際にオペアンプの内部入力保護と ESD 構造がどのような挙動を示すかを解説します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Electrical Overstress (EOS) 3(英語)

3 番目のビデオではEOS 保護用部品の選択法を紹介します。オペアンプのデータシートに記載されている絶対最大定格とアプリケーション回路の動作条件を使用し、適切な TVS ダイオードと電流制限抵抗を選択します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Electrical Overstress (EOS) 4(英語)

4 番目のビデオでは最もよく発生する電気的過渡によるデバイスの損傷メカニズムについて解説し、さらに、こうした過渡挙動に対する製品の堅牢性を調べるための標準的な試験法について説明します。


Basics of Multiplexers(英語)

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Basics of Multiplexers(英語)

マルチプレクサのオン抵抗の平坦度が歪みに影響を及ぼす可能性があるととお聞きになったことがありますか。マルチプレクサのオン静電容量が入力信号の設定にどのように影響を及ぼすかをご存じでしょうか。

これらの質問に答えるほか、マルチプレクサの AC / DC 特性のように、需要が高いと思われるさまざまな情報を紹介します。

  • アンプ回路と組み合わせた場合、マルチプレクサのオン抵抗がゲインと非線形性にどのような影響を及ぼすかをご確認ください。
  • シミュレーションを使用して、マルチプレクサのオン静電容量が、マルチプレクサのセトリング動作にどのように影響を及ぼすか示します。
  • リーケージ電流がオフセット誤差にどのような影響を及ぼし、ソース・インピーダンスがこの問題にどのように影響するかを説明します。
  • チャージ・インジェクションがどのように誤差を引き起こす可能性があるか、また負荷静電容量の大きさによってこの問題がどのような影響を受けるかも示します。

このビデオ・シリーズでは、マルチプレクサの AC / DC 特性について説明し、詳細な問題と TINA-TI を使用した回路シミュレーションにより、理論を強化します。

TI プレシジョン・ラボ - Op Amps: Multiplexers 1 - On-Resistance Flatness and On-Capacitance(英語)

この TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ・トレーニング・ビデオでは、マルチプレクサのオン抵抗およびオン静電容量というパラメータの概要を説明します。オン抵抗がどのようにゲイン誤差と非直線性を引き起こす可能性があるか、またオン抵抗がマルチプレクサのセトリング動作にどのように影響を及ぼす可能性があるかを示します。

TI プレシジョン・ラボ - Op Amps: Multiplexers 2 - Leakage Current and Charge Injection(英語)

この TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ・トレーニング・ビデオでは、リーケージ電流とチャージ・インジェクションの概要を説明します。入力インピーダンスの大きいデータ・アクイジションシステムにリーケージ電流がどのようにオフセット誤差を引き起こす可能性があるか、またマルチプレクサのオン / オフを切り替えるときにチャージ・インジェクションがどのように出力電圧誤差を引き起こすかを示します。 

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Multiplexers 3 - Bandwidth, Channel-to-Channel Crosstalk, Off-Isolation and THD+Noise(英語)

この TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ・トレーニング・ビデオ(英語)は、マルチプレクサの帯域幅、チャンネル相互間のクロストーク、オフ・アイソレーション、THD とノイズの仕様に関する概要を示します。最初に、これらのパラメータがどのように定義および測定されているか説明します。次に、デバイスに関連する要因が、これらのパラメータにどのような影響を及ぼすか、またマルチプレクサの性能にどのような制限を加えるかを検証します。

TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ: Multiplexers 4 - Electrical Overstress(英語)

この TI プレシジョン・ラボ - オペアンプ・トレーニング・ビデオでは、マルチプレクサの電気的オーバーストレス条件の概要を説明します。このシリーズの目標は、電気的オーバーストレスによる損傷を引き起こす原因がどのようなものか、また外部部品を使用して損傷を防止する方法について理解できるようになることです。このビデオ・シリーズで注目しているマルチプレクサは、MUX36S08 です。