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SN65220

アクティブ

シングル USB (ユニバーサル・シリアル・バス) ポート過渡サプレッサ

この製品には新バージョンがあります。

open-in-new 代替品と比較
比較対象デバイスと同等の機能で、ピン配置が異なる製品
TPD2E007 アクティブ AC 信号データ インターフェイス向け、デュアル、10pF、±13V、±8kV ESD (静電気放電) 保護ダイオード TPD2E007 has much better capacitance performance, as well as other specifications.

製品詳細

Package name SOT-23 Peak pulse power (8/20 μs) (max) (W) 60 Vrwm (V) 6 Bi-/uni-directional Uni-Directional Number of channels 2 IO capacitance (typ) (pF) 35 Breakdown voltage (min) (V) 6.5
Package name SOT-23 Peak pulse power (8/20 μs) (max) (W) 60 Vrwm (V) 6 Bi-/uni-directional Uni-Directional Number of channels 2 IO capacitance (typ) (pF) 35 Breakdown voltage (min) (V) 6.5
SOT-23 (DBV) 6 8.12 mm² 2.9 x 2.8
  • サブミクロンの 3V または 5V 回路をノイズ過渡から保護するように設計
  • 以下を上回るポート ESD 保護性能:
    • 人体モデルで 15kV
    • マシン・モデルで 2kV
  • WCSP チップ・スケール・パッケージで提供
  • スタンドオフ電圧:6V (最小値)
  • 低電流リーク:1µA 以下 (6V の場合)
  • 低キャパシタンス:35pF (標準値)
  • サブミクロンの 3V または 5V 回路をノイズ過渡から保護するように設計
  • 以下を上回るポート ESD 保護性能:
    • 人体モデルで 15kV
    • マシン・モデルで 2kV
  • WCSP チップ・スケール・パッケージで提供
  • スタンドオフ電圧:6V (最小値)
  • 低電流リーク:1µA 以下 (6V の場合)
  • 低キャパシタンス:35pF (標準値)

SN65220 デバイスはデュアル、SN65240 および SN75240 デバイスはクワッドの単方向過渡電圧サプレッサ (TVS) です。これらのデバイスは、USB (Universal Serial Bus) ロー / フルスピード・ポートに対する電気的ノイズ過渡保護を提供します。入力容量が 35pF であるため、ハイスピード USB 2.0 アプリケーションには適していません。

ケーブル接続されたすべての I/O は、各種ノイズ源からの電気的ノイズの過渡現象にさらされる可能性があります。このようなノイズ過渡は、十分な大きさと持続時間を持つ場合、USB トランシーバまたは USB ASIC に損傷を与える可能性があります。

SN65220、SN65240、SN75240 デバイスの ESD 性能は、IEC61000-4-2 に従ってシステム・レベルで測定されています。しかし、システム設計はこれらの試験の結果に影響を及ぼします。高水準の適合性を達成するには、入念な基板設計およびレイアウト技術が必要です。

SN65220 デバイスはデュアル、SN65240 および SN75240 デバイスはクワッドの単方向過渡電圧サプレッサ (TVS) です。これらのデバイスは、USB (Universal Serial Bus) ロー / フルスピード・ポートに対する電気的ノイズ過渡保護を提供します。入力容量が 35pF であるため、ハイスピード USB 2.0 アプリケーションには適していません。

ケーブル接続されたすべての I/O は、各種ノイズ源からの電気的ノイズの過渡現象にさらされる可能性があります。このようなノイズ過渡は、十分な大きさと持続時間を持つ場合、USB トランシーバまたは USB ASIC に損傷を与える可能性があります。

SN65220、SN65240、SN75240 デバイスの ESD 性能は、IEC61000-4-2 に従ってシステム・レベルで測定されています。しかし、システム設計はこれらの試験の結果に影響を及ぼします。高水準の適合性を達成するには、入念な基板設計およびレイアウト技術が必要です。

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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SNx52x0 USB ポート過渡電流サプレッサ データシート (Rev. J 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.J) PDF | HTML 2022年 9月 21日
セレクション・ガイド System-Level ESD Protection Guide (Rev. D) 2022年 9月 7日
アプリケーション・ノート ESD Packaging and Layout Guide (Rev. B) PDF | HTML 2022年 8月 18日
ユーザー・ガイド Generic ESD Evaluation Module User's Guide (Rev. A) PDF | HTML 2021年 9月 27日

設計と開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

ESDEVM — 汎用 ESD の評価モジュール

Texas Instrument's ESDEVM evaluation module allows the evaluation of most of TI's ESD portfolio. The board comes with all traditional ESD footprints in order to be able to test any number of devices. Devices that need to be tested can be soldered onto their respect footprint and then tested. For (...)
ユーザー ガイド: PDF | HTML
シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
シミュレーション・ツール

TINA-TI — SPICE ベースのアナログ・シミュレーション・プログラム

TINA-TI は、DC 解析、過渡解析、周波数ドメイン解析など、SPICE の標準的な機能すべてを搭載しています。TINA には多彩な後処理機能があり、結果を必要なフォーマットにすることができます。仮想計測機能を使用すると、入力波形を選択し、回路ノードの電圧や波形を仮想的に測定することができます。TINA の回路キャプチャ機能は非常に直観的であり、「クイックスタート」を実現できます。

TINA-TI をインストールするには、約 500MB が必要です。インストールは簡単です。必要に応じてアンインストールも可能です。(そのようなことはないと思いますが)

TINA は DesignSoft (...)

ユーザー ガイド: PDF
英語版 (Rev.A): PDF
リファレンス・デザイン

TIDA-00782 — DLP® テクノロジーを使用する、ポータブル、高輝度 HD プロジェクション・ディスプレイ、リファレンス・デザイン

このリファレンス・デザインは DLP Pico™ 0.45 インチ WXGA ディスプレイ・チップセットを採用し、アクセサリ・プロジェクタ、スマート・プロジェクタ、モバイル・スマート TV、ノートブック/ラップトップやホット・スポット内のプロジェクション機能のような内蔵型プロジェクタなどのプロジェクション・ディスプレイ機器で高品位(HD) 解像度を実現します。このリファレンス・デザインで採用しているチップセットは、DLP4501(0.45 WXGA)DMD、DLPC6401 ディスプレイ・コントローラで構成されています。LED ドライバ・リファレンス・デザインは、このリンク PMP4356 (...)
設計ガイド: PDF
回路図: PDF
パッケージ ピン数 ダウンロード
SOT-23 (DBV) 6 オプションの表示

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 材質成分
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。

サポートとトレーニング

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