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TLC3702-EP

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エンハンスド製品、デュアル、マイクロパワー、LinCMOS(TM) 電圧コンパレータ

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製品詳細

Number of channels 2 Output type Push-Pull Propagation delay time (µs) 1.1 Vs (max) (V) 16 Vs (min) (V) 4 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 5 Iq per channel (typ) (mA) 0.009 Input bias current (±) (max) (nA) 0.03 Rail-to-rail In to V- Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125 VICR (max) (V) 15 VICR (min) (V) 0
Number of channels 2 Output type Push-Pull Propagation delay time (µs) 1.1 Vs (max) (V) 16 Vs (min) (V) 4 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 5 Iq per channel (typ) (mA) 0.009 Input bias current (±) (max) (nA) 0.03 Rail-to-rail In to V- Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125 VICR (max) (V) 15 VICR (min) (V) 0
SOIC (D) 8 29.4 mm² 4.9 x 6
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of –55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • Push-Pull CMOS Output Drives Capacitive Loads Without Pullup Resistor, IO = ± 8 mA
  • Very Low Power . . . 100 uW Typ at 5 V
  • Fast Response Time ...tPLH = 2.7 us Typ With 5-mV Overdrive
  • Single-Supply Operation ...4 V to 16 V
  • On-Chip ESD Protection

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
LinCMOS is a trademark of Texas Instruments Incorporated.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of –55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • Push-Pull CMOS Output Drives Capacitive Loads Without Pullup Resistor, IO = ± 8 mA
  • Very Low Power . . . 100 uW Typ at 5 V
  • Fast Response Time ...tPLH = 2.7 us Typ With 5-mV Overdrive
  • Single-Supply Operation ...4 V to 16 V
  • On-Chip ESD Protection

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
LinCMOS is a trademark of Texas Instruments Incorporated.

The TLC3702 consists of two independent micropower voltage comparators designed to operate from a single supply and be compatible with modern HCMOS logic systems. They are functionally similar to the LM339 but use one-twentieth of the power for similar response times. The push-pull CMOS output stage drives capacitive loads directly without a power-consuming pullup resistor to achieve the stated response time. Eliminating the pullup resistor not only reduces power dissipation, but also saves board space and component cost. The output stage is also fully compatible with TTL requirements.

Texas Instruments LinCMOS™ process offers superior analog performance to standard CMOS processes. Along with the standard CMOS advantages of low power without sacrificing speed, high input impedance, and low bias currents, the LinCMOS™ process offers extremely stable input offset voltages with large differential input voltages. This characteristic makes it possible to build reliable CMOS comparators.

The TLC3702 consists of two independent micropower voltage comparators designed to operate from a single supply and be compatible with modern HCMOS logic systems. They are functionally similar to the LM339 but use one-twentieth of the power for similar response times. The push-pull CMOS output stage drives capacitive loads directly without a power-consuming pullup resistor to achieve the stated response time. Eliminating the pullup resistor not only reduces power dissipation, but also saves board space and component cost. The output stage is also fully compatible with TTL requirements.

Texas Instruments LinCMOS™ process offers superior analog performance to standard CMOS processes. Along with the standard CMOS advantages of low power without sacrificing speed, high input impedance, and low bias currents, the LinCMOS™ process offers extremely stable input offset voltages with large differential input voltages. This characteristic makes it possible to build reliable CMOS comparators.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート Dual Micropower LinCMOS? Voltage Comparator データシート 2002年 7月 16日
* VID TLC3702-EP VID V6203643 2016年 6月 21日
* 放射線と信頼性レポート TLC3702MDREP Reliability Report (Rev. A) 2012年 8月 17日
e-Book（PDF） The Signal - オペアンプ設計ブログ集 英語版 2018年 3月 23日

設計と開発

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シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
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シミュレーション・ツール

TINA-TI — SPICE ベースのアナログ・シミュレーション・プログラム

TINA-TI は、DC 解析、過渡解析、周波数ドメイン解析など、SPICE の標準的な機能すべてを搭載しています。TINA には多彩な後処理機能があり、結果を必要なフォーマットにすることができます。仮想計測機能を使用すると、入力波形を選択し、回路ノードの電圧や波形を仮想的に測定することができます。TINA の回路キャプチャ機能は非常に直観的であり、「クイックスタート」を実現できます。

TINA-TI をインストールするには、約 500MB が必要です。インストールは簡単です。必要に応じてアンインストールも可能です。(そのようなことはないと思いますが)

TINA は DesignSoft (...)

ユーザー ガイド: PDF
英語版 (Rev.A): PDF
オプションの表示
パッケージ ピン数 ダウンロード
SOIC (D) 8 オプションの表示
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 材質成分
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。

サポートとトレーニング

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