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UCC20225

アクティブ

2.5kVrms、4A/6A、デュアル入力、イネーブル、8V UVLO の各機能搭載、LGA パッケージ封止、デュアルチャネル絶縁型ゲート・ドライバ

製品詳細

Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Catalog Input supply voltage (max) (V) 18 Input supply voltage (min) (V) 3 Isolation rating Functional Number of channels 2
Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Catalog Input supply voltage (max) (V) 18 Input supply voltage (min) (V) 3 Isolation rating Functional Number of channels 2
VLGA (NPL) 13 25 mm² 5 x 5
  • シングル入力、デュアル出力、デッドタイムをプログラム可能
  • 5mm×5mmの省スペースLGA-13パッケージ
  • スイッチング・パラメータ
    • 伝搬遅延 19ns (標準値)
    • 最大遅延マッチング 5ns
    • 最大パルス幅歪み 6ns
  • 100V/nsを超えるCMTI
  • ピーク・ソース4A、ピーク・シンク6Aの出力
  • TTLおよびCMOS互換の入力
  • 3V~18Vの入力VCCI範囲
  • 最高25VのVDD、8V UVLO
  • デッドタイムをプログラム可能
  • 5nsより短い入力過渡を除去
  • 高速なディセーブルによる電源シーケンシング
  • 安全関連の認定
    • DIN V VDE V 0884-11:2017-01に準拠した3535VPK絶縁
    • UL 1577に準拠した絶縁耐圧: 2500 VRMS (1分間)
    • GB4943.1-2011準拠のCQC認定
  • シングル入力、デュアル出力、デッドタイムをプログラム可能
  • 5mm×5mmの省スペースLGA-13パッケージ
  • スイッチング・パラメータ
    • 伝搬遅延 19ns (標準値)
    • 最大遅延マッチング 5ns
    • 最大パルス幅歪み 6ns
  • 100V/nsを超えるCMTI
  • ピーク・ソース4A、ピーク・シンク6Aの出力
  • TTLおよびCMOS互換の入力
  • 3V~18Vの入力VCCI範囲
  • 最高25VのVDD、8V UVLO
  • デッドタイムをプログラム可能
  • 5nsより短い入力過渡を除去
  • 高速なディセーブルによる電源シーケンシング
  • 安全関連の認定
    • DIN V VDE V 0884-11:2017-01に準拠した3535VPK絶縁
    • UL 1577に準拠した絶縁耐圧: 2500 VRMS (1分間)
    • GB4943.1-2011準拠のCQC認定

UCC20225は絶縁されたシングル入力、デュアル出力のゲート・ドライバで、ソース4A、シンク6Aのピーク電流を持ち、5mm×5mmのLGA-13パッケージに搭載されています。パワー・トランジスタを最大5MHzで駆動するよう設計され、クラス最高の伝搬遅延とパルス幅歪みを実現しています。

入力側は、2.5kVRMSの絶縁バリアによって2つの出力ドライバと分離され、同相過渡耐性(CMTI)は最小で100V/nsです。2つの出力側ドライバ間が内部で機能的に絶縁されているため、最高700VDCの動作電圧が可能です。

UCC20225は、DTピンの抵抗によりデッドタイム(DT)をプログラムできます。ディセーブル・ピンがHIGHに設定されると、両方の出力が同時にシャットダウンし、オープンまたは接地したときには通常動作します。

このデバイスは、最高25VのVDD電源電圧に対応できます。VCCI入力範囲が3V~18Vと広いため、このドライバはアナログとデジタル両方のコントローラとの接続に適しています。すべての電源電圧ピンには、低電圧誤動作防止(UVLO)保護機能が搭載されています。

これらの高度な機能により、UCC20225は広範な電源アプリケーションにおいて高い電力密度、高い効率、堅牢性を実現します。

UCC20225は絶縁されたシングル入力、デュアル出力のゲート・ドライバで、ソース4A、シンク6Aのピーク電流を持ち、5mm×5mmのLGA-13パッケージに搭載されています。パワー・トランジスタを最大5MHzで駆動するよう設計され、クラス最高の伝搬遅延とパルス幅歪みを実現しています。

入力側は、2.5kVRMSの絶縁バリアによって2つの出力ドライバと分離され、同相過渡耐性(CMTI)は最小で100V/nsです。2つの出力側ドライバ間が内部で機能的に絶縁されているため、最高700VDCの動作電圧が可能です。

UCC20225は、DTピンの抵抗によりデッドタイム(DT)をプログラムできます。ディセーブル・ピンがHIGHに設定されると、両方の出力が同時にシャットダウンし、オープンまたは接地したときには通常動作します。

このデバイスは、最高25VのVDD電源電圧に対応できます。VCCI入力範囲が3V~18Vと広いため、このドライバはアナログとデジタル両方のコントローラとの接続に適しています。すべての電源電圧ピンには、低電圧誤動作防止(UVLO)保護機能が搭載されています。

これらの高度な機能により、UCC20225は広範な電源アプリケーションにおいて高い電力密度、高い効率、堅牢性を実現します。

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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート UCC20225、2.5kVRMS絶縁、シングル入力、LGAパッケージのデュアル・チャネル・ゲート・ドライバ データシート (Rev. A 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.A) PDF | HTML 2018年 6月 25日
証明書 VDE Certificate for Basic Isolation for DIN EN IEC 60747-17 (Rev. W) 2024年 1月 31日
アプリケーション概要 The Use and Benefits of Ferrite Beads in Gate Drive Circuits PDF | HTML 2021年 12月 16日
証明書 FPPT2 - Nonoptical Isolating Devices UL 1577 Certificate of Compliance 2021年 10月 26日
アプリケーション概要 External Gate Resistor Selection Guide (Rev. A) 2020年 2月 28日
アプリケーション概要 Understanding Peak IOH and IOL Currents (Rev. A) 2020年 2月 28日
アプリケーション概要 How to Drive High Voltage GaN FETs with UCC21220A 2019年 3月 6日
証明書 UL Certification E181974 Vol 4. Sec 8 (Rev. A) 2018年 7月 23日
証明書 CQC Product Certificate 2 2018年 2月 7日
EVM ユーザー ガイド (英語) Using the UCC21225AEVM-365 2017年 3月 14日

設計と開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

UCC21225AEVM-365 — UCC21225A 4A、6A、5.7kVRMS 絶縁型デュアルチャネル・ゲート・ドライバの評価モジュール

UCC21225AEVM-365 is designed for evaluating UCC21225ANPL, which is an isolated dual-channel gate driver with 4-A source and 6-A sink peak current capability in a 5x5 LGA package. This EVM can be used as a reference design for driving power MOSFETs, IGBTs, and SiC MOSFETs with UCC21225A pin (...)
ユーザー ガイド: PDF
シミュレーション・モデル

UCC20225 PSpice Transient Model

SLUM581.ZIP (127 KB) - PSpice Model
シミュレーション・モデル

UCC20225 Unencrypted PSpice Transient Model

SLUM580.ZIP (3 KB) - PSpice Model
パッケージ ピン数 ダウンロード
VLGA (NPL) 13 オプションの表示

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 材質成分
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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