LAN/WAN 試験機器

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設計上の考慮事項

LAN/WAN test equipment is typically used for performance, protocol, conformance and interoperability analysis for voice & data communication in telecom and data networks. The network typically uses technologies like gigabit Ethernet, voice over Internet Protocol (VoIP), passive optical network or wireless communication.

TI Designs demonstrate analog front end design methodologies including

High performance high speed data acquisition and arbitrary waveform generation

Wideband, high SNR and dynamic range design optimizations from wideband amplifiers and ADC drivers

Signal chain design methodology for high performance analog front ends using GSPS ADCsand GSPS DACs

Using ultra-low jitter programmable clock generators for single and multichannel applications

技術資料

アプリケーション・ノート

アプリケーション・ノート (5)

タイトル	概要	種類	サイズ (KB)	日付	表示回数
How to measure Total Jitter (TJ)	概要	HTM	9 KB	2017年 8月 8日	434
LMK0461x Phase Noise Performance With DC-DC Converters	概要	HTM	9 KB	2017年 7月 20日	107
Green box testing: A method for optimizing high-speed serial links		PDF	1.63 MB	2016年 7月 21日	334
Reducing Radiated Emissions in Ethernet 10/100 LAN Applications	概要	HTM	8 KB	2013年 4月 26日	438
Implementating a Variable-Length Cat5e Cable Equalizer	概要	HTM	8 KB	2010年 4月 25日	80

製品カタログ/ホワイト・ペーパー

ホワイト・ペーパー (1)

タイトル	概要	種類	サイズ (MB)	日付	表示回数	英語版
The Impact of Various PLL Parameters on System Perf		PDF	91 KB	2007年 5月 1日	233

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