LCD 試験装置

LCD 試験機器

設計上の考慮事項

TI の IC とリファレンス・デザインはリファレンス電圧の負荷、クロッキング、電源によるチャネル間のばらつきを最小化する、高密度の高性能マルチ・チャネル LCD(液晶ディスプレイ)テスト機器の設計を可能にします。

    新世代 LCD テスト機器の一般的な要件:

  • 高精度、高電圧、マルチチャネルの同時測定機能
  • 測定時のチャネル間のばらつきが最小
  • ショート・バー・テスト向けの大電流駆動高精度電圧の生成
  • 高集積、高効率、低 EMI の電源アーキテクチャ
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技術資料

アプリケーション・ノート

アプリケーション・ノート (4)

タイトル 概要 種類 サイズ (KB) 日付 英語版
PDF 107 KB 2018年 8月 31日
HTM 8 KB 2017年 6月 14日
HTM 9 KB 2016年 9月 19日
PDF 132 KB 2015年 4月 16日

製品カタログ/ホワイト・ペーパー

ホワイト・ペーパー (3)

タイトル 概要 種類 サイズ (MB) 日付 英語版
PDF 1.2 MB 2018年 10月 23日
PDF 1.25 MB 2016年 9月 15日
PDF 1011 KB 2016年 1月 26日

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