プローブ/アクティブ・プローブ

プローブ/アクティブ・プローブ

設計上の考慮事項

Active probe test leads connect a device under test (DUT) to a high bandwidth oscilloscope for signal measurement. Active probe designs require power for the active components in the probe.

  • Active probes are used to capture very low amplitude signals which require low noise and low distortion amplifiers at the front end.
  • TI Designs help to solve analog front end signal chain design challenges by using TI’s high speed amplifiers, wide bandwidth and low noise amplifiers to optimize the design
  • TI Designs demonstrate how high resolution multi-channel voltage DACs may be used to measure low amplitude signals with large common mode
  • TI designs demonstrate elegant human machine interface implementation by leveraging CapTIvate™ touch microcontrollers, LED drivers and low power microcontrollers
  • TI reference designs help users identify low noise, high current LDO’s for analog front end power
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    技術資料

    アプリケーション・ノート

    アプリケーション・ノート (5)

    タイトル 概要 種類 サイズ (KB) 日付 英語版
    PDF 108 KB 2018年 8月 31日
    PDF 295 KB 2005年 3月 11日
    PDF 285 KB 2005年 2月 28日
    PDF 206 KB 2001年 9月 17日
    PDF 93 KB 1998年 11月 30日

    製品カタログ/ホワイト・ペーパー

    ホワイト・ペーパー (4)

    タイトル 概要 種類 サイズ (MB) 日付 英語版
    PDF 2.5 MB 2016年 10月 31日 英語版をダウンロード
    PDF 1011 KB 2016年 1月 26日
    PDF 1.81 MB 2015年 7月 24日
    PDF 133 KB 2014年 6月 17日

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