プローブ/アクティブ・プローブ

プローブ/アクティブ・プローブ

設計上の考慮事項

Active probe test leads connect a device under test (DUT) to a high bandwidth oscilloscope for signal measurement. Active probe designs require power for the active components in the probe.

  • Active probes are used to capture very low amplitude signals which require low noise and low distortion amplifiers at the front end.
  • TI Designs help to solve analog front end signal chain design challenges by using TI’s high speed amplifiers, wide bandwidth and low noise amplifiers to optimize the design
  • TI Designs demonstrate how high resolution multi-channel voltage DACs may be used to measure low amplitude signals with large common mode
  • TI designs demonstrate elegant human machine interface implementation by leveraging CapTIvate™ touch microcontrollers, LED drivers and low power microcontrollers
  • TI reference designs help users identify low noise, high current LDO’s for analog front end power
  • 技術資料

    アプリケーション・ノート

    アプリケーション・ノート (5)

    タイトル 概要 種類 サイズ (KB) 日付 表示回数 英語版
    PDF 108 KB 2018年 8月 31日 0
    PDF 295 KB 2005年 3月 11日 0
    PDF 285 KB 2005年 2月 28日 0
    HTM 8 KB 2001年 9月 17日 0
    HTM 8 KB 1998年 11月 30日 0

    製品カタログ/ホワイト・ペーパー

    ホワイト・ペーパー (4)

    タイトル 概要 種類 サイズ (MB) 日付 表示回数 英語版
    PDF 2.5 MB 2016年 10月 31日 0 英語版をダウンロード
    PDF 1011 KB 2016年 1月 26日 0
    PDF 1.81 MB 2015年 7月 24日 0
    PDF 133 KB 2014年 6月 17日 0

    ブログ

    サポートとトレーニング

    技術的な質問と回答を豊富に掲載している TI の包括的なオンライン・ナレッジ・ベースは 24 時間 365 日ご利用になれます。

    TI のエキスパートによる回答の検索

    コミュニティ内のコンテンツは、個別の TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。
    使用条件をご確認ください

    TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI のサポート・ページをご覧ください