プローブ/アクティブ・プローブ

プローブ/アクティブ・プローブ

設計上の考慮事項

Active probe test leads connect a device under test (DUT) to a high bandwidth oscilloscope for signal measurement. Active probe designs require power for the active components in the probe.

  • Active probes are used to capture very low amplitude signals which require low noise and low distortion amplifiers at the front end.
  • TI Designs help to solve analog front end signal chain design challenges by using TI’s high speed amplifiers, wide bandwidth and low noise amplifiers to optimize the design
  • TI Designs demonstrate how high resolution multi-channel voltage DACs may be used to measure low amplitude signals with large common mode
  • TI designs demonstrate elegant human machine interface implementation by leveraging CapTIvate™ touch microcontrollers, LED drivers and low power microcontrollers
  • TI reference designs help users identify low noise, high current LDO’s for analog front end power
  • 技術資料

    アプリケーション・ノート

    アプリケーション・ノート (5)

    タイトル 概要 種類 サイズ (KB) 日付 表示回数 英語版
    PDF 131 KB 2017年 2月 9日 1310
    PDF 295 KB 2005年 3月 11日 635
    PDF 285 KB 2005年 2月 28日 216
    HTM 8 KB 2001年 9月 17日 1934
    HTM 8 KB 1998年 11月 30日 230

    製品カタログ/ホワイト・ペーパー

    ホワイト・ペーパー (4)

    タイトル 概要 種類 サイズ (MB) 日付 表示回数 英語版
    PDF 2.5 MB 2016年 10月 31日 0 英語版をダウンロード
    PDF 1011 KB 2016年 1月 26日 386
    PDF 1.81 MB 2015年 7月 24日 316
    PDF 133 KB 2014年 6月 17日 67

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