ソース・メジャー・ユニット(SMU)

ソース生成 - ソース計測ユニット(SMU)

設計上の考慮事項

TI の IC とリファレンス・デザインは半導体などのデバイスの高精度テストと特性評価のための高精度ソース測定ユニットの設計を可能にします。

次世代ソース測定ユニットの要件:

  • 高電圧、大電流のソース生成 / 測定能力
  • ダイナミック・レンジが広い高精度制御 / 測定機能
  • パラメータ調整とエージェントの使用監視のための直感的なインターフェイス
  • デバイスの自己発熱を防止するパルス・モード・サポート
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技術資料

アプリケーション・ノート

アプリケーション・ノート (5)

タイトル 種類 サイズ (KB) 日付 英語版
PDF 217 KB 2019年 2月 11日
PDF 107 KB 2018年 8月 31日
PDF 213 KB 2017年 9月 18日
PDF 78 KB 2017年 6月 14日
PDF 132 KB 2015年 4月 16日

製品カタログ/ホワイト・ペーパー

ホワイト・ペーパー (5)

タイトル 種類 サイズ (MB) 日付 英語版
PDF 688 KB 2018年 2月 1日
PDF 1.2 MB 2017年 4月 4日 英語版をダウンロード
PDF 149 KB 2016年 11月 8日
PDF 3.07 MB 2016年 8月 1日
PDF 2.13 MB 2016年 3月 31日

技術記事

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