ワイヤレス通信テスターさまざまなワイヤレス通信テクノロジーの物理層とその下位層の機能に対応したテスターのブロック図(SBD)。 |
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ワイヤレス通信テスターさまざまなワイヤレス通信テクノロジーの物理層とその下位層の機能に対応したテスターのブロック図(SBD)。 |
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設計上の考慮事項ワイヤレス・コミュニケーション・テスターワイヤレス・コミュニケーション・テスターとは、各種の異なるワイヤレス・コミュニケーション・テクノロジーの物理層と下位層の機能をテストするために使用するテスト用製品や測定機器製品の総称です。 ここでいうテクノロジーとは、さまざまな規格に基づいたセルラー・テクノロジー(例: バックホールおよびポイント・ツー・ポイント接続に対応した LTE、WiMAX、WCDMA、GSM、マイクロ波通信)、802.11x ベースのローカル・エリア・ネットワーク、オーディオ/ビデオ・ブロードキャスト・ソリューション、衛星通信などを意味します。製品としては、インフラストラクチャ基盤を構成するベース・ステーションをはじめ、セルラ携帯電話や PDA のようなユーザー機器など、さまざまなコンポーネントが含まれます。 このブロック図は、規格をもとにワイヤレス信号の送受信および解析するテスターの小規模なサブセットを詳細に表したものです。このような製品の例として、以下のものが挙げられます。
代表的なハイエンド・ワイヤレス・テスターは、さまざまな汎用テスト/測定機能や一部の規格/テクノロジー固有な測定機能を、まとめてシングル・ユニットに統合されたものと考えることができます。つまり、シグナル・ジェネレータ、シグナル/スペクトル・アナライザ、ノイズ・アナライザ、ノイズ・ジェネレータなど、多くの機能の組み合わせです。 業界の技術動向に基づいた場合、デジタル・シグナル・プロセッサ(DSP)の設計に関する主な考慮事項は以下のようにまとめられます。
テスト機器設計に関して、このような考慮を行なうことで、デザイナーはコストと市場への投入期間の両方に関する要件を同時に満たすことができます。 TI の半導体ポートフォリオには、ワイヤレス・テスト機器において完全なシグナル・チェーンを実装するのに必要なアナログ・パーツとデジタル・パーツが多数含まれています。このポートフォリオには、業界で最高性能の DSP(シングル・コアおよびマルチ・コアの製品)が含まれているため、最高の性能/電力比が実現し、ワイヤレス・テスター設計者の全体的なニーズに対応できます。 アプリケーション・ノート (3)
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| 概要 | 型番 | 会社名 |
| TPS2350 -48 V ATCA ホット・スワップ リファレンス・デザイン、FET OR回路付 | TPS2350ATCA | Texas Instruments |
| TPS54418 リファレンス・デザイン、小型用に最適化 | PMP4856 | Texas Instruments |
| タイトル | 概要 | 種類 | サイズ (KB) | 日付 | 表示回数 | 英語版 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 8.94 MB | 2013年 3月 11日 | 32385 | ||||
| 146 KB | 2010年 9月 1日 | 881 | ||||
| 4.91 MB | 2008年 7月 3日 | 952 |
| 名称 | 型番 | 会社名 | ソフトウェア/ツール・タイプ |
| C64x+DSPLIB | SPRC265 | Texas Instruments | ソフトウェア・ライブラリ |
| C64x+ IQMath ライブラリ、仮想浮動小数点エンジン | SPRC542 | Texas Instruments | ソフトウェア・ライブラリ |
| タイトル | 概要 | 種類 | サイズ (MB) | 日付 | 表示回数 | 英語版 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 228 KB | 2011年 6月 9日 | 1246 | ||||
| 208 KB | 2011年 4月 25日 | 2073 |
| タイトル | 概要 | 種類 | サイズ (MB) | 日付 | 表示回数 | 英語版 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 914 KB | 2012年 2月 23日 | 819 | ||||
| 1014 KB | 2011年 5月 17日 | 1945 | ||||
| 562 KB | 2010年 12月 21日 | 1334 | ||||
| 423 KB | 2010年 11月 9日 | 1426 |