この近赤外線（NIR）分光器リファレンス・デザインでは、テキサス・インスツルメンツの DLP テクノロジーと単素子 InGaAs 検出器の組み合わせによって高性能な測定が可能です。しかも、高価な InGaAs アレイ検出器や壊れやすい回転回折格子アーキテクチャとは異なり、低コストでポータブルなフォーム・ファクタを実現しています。NIR 分光器は、食品、農業、製薬、石油化学製品、プラスチックなどさまざまなアプリケーションで、有機系の液体や固体を解析するために一般的に使用されています。強力な Sitara 組込みプロセッサやアナログ・シグナル・チェーン部品と組み合わせれば、デベロッパーは、ハイエンドのラボ用分光器の実力を備えた機器を作業現場や製造ラインに提供できます。
すぐに使用できるシステム・ファイルをダウンロードすると、設計プロセスを迅速化できます。
設計に使用したコンポーネント、参照指定子、メーカー名や型番などを記入した詳細なリスト
設計や代替製品候補に TI 製品を含めます。
DLP NIRscan は、高性能で手頃な近赤外線分光計を設計するための評価モジュール（EVM）です。設計者が DLP ベースの分光器の開発をすぐに開始するために必要なものがすべて含まれています。この評価モジュールは、近赤外（NIR）光用に最適化されている初の DLP チップセットとなる DLP 0.45 WXGA NIR チップセットが特長です。DLP テクノロジーにより、食品、製薬、石油/ガス、他の新興産業で使用されている分光器で、ラボ・レベルの性能を工場や現場でも実現できるようになります。
| 種類 | タイトル | 英語版のダウンロード | 日付 | |||
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| * | 試験報告書 | TIDA-00155 Test Results | 2014年 2月 26日 | |||
| アプリケーション・ノート | Flexible Trade-offs in Maximizing SNR and Res. in TI DLP® Tech. Based Spec. Sys. | 2016年 8月 1日 | ||||
| アプリケーション・ノート | DLP Spectrometer Design Considerations | 2014年 8月 21日 |