JAJSHH9H May   2008  – May 2019 DS90LV028AQ-Q1

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  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
    1.     Device Images
      1.      機能図
  4. 4 改訂履歴
  5. 5 Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Descriptions
  6. 6 Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 Switching Characteristics
    7. 6.7 Typical Performance Curves
  7. 7 Parameter Measurement Information
  8. 8 Detailed Description
    1. 8.1 Functional Block Diagram
    2. 8.2 Device Functional Modes
  9. 9 Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
    2. 9.2 Typical Application
      1. 9.2.1 Detailed Design Procedure
        1. 9.2.1.1 Power Decoupling Recommendations
        2. 9.2.1.2 Termination
        3. 9.2.1.3 Input Failsafe Biasing
        4. 9.2.1.4 Probing LVDS Transmission Lines
        5. 9.2.1.5 Cables and Connectors, General Comments
  10. 10Layout
    1. 10.1 Layout Guidelines
      1. 10.1.1 Differential Traces
      2. 10.1.2 PC Board Considerations
  11. 11デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 11.1 デバイス・サポート
    2. 11.2 コミュニティ・リソース
    3. 11.3 商標
    4. 11.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 11.5 Glossary
  12. 12メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

11.4 静電気放電に関する注意事項

esds-image

すべての集積回路は、適切なESD保護方法を用いて、取扱いと保存を行うようにして下さい。

静電気放電はわずかな性能の低下から完全なデバイスの故障に至るまで、様々な損傷を与えます。高精度の集積回路は、損傷に対して敏感であり、極めてわずかなパラメータの変化により、デバイスに規定された仕様に適合しなくなる場合があります。