JAJSJ89E December 2019 – May 2022 ISO6740-Q1 , ISO6741-Q1 , ISO6742-Q1
PRODUCTION DATA
デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。
パラメータ | テスト条件 | 値 | 単位 | |
---|---|---|---|---|
DW-16 | ||||
CLR | 空間距離(1) | 空気を介した最短のピン間距離 | >8 | mm |
CPG | 沿面距離(1) | パッケージ表面に沿った最短のピン間距離 | >8 | mm |
DTI | 絶縁物を介した距離 | 最小内部ギャップ (内部空間距離) | >17 | um |
CTI | 比較トラッキング指数 | DIN EN 60112 (VDE 0303-11)、IEC 60112 | >600 | V |
材料グループ | IEC 60664-1 による | I | ||
IEC 60664-1 に準拠した過電圧カテゴリ | 定格商用電源 VRMS が 600V 以下 | I-IV | ||
定格商用電源 VRMS が1000V 以下 | I-III | |||
DIN VDE V 0884-11:2017-01(2) | ||||
VIORM | 最大反復ピーク絶縁電圧 | AC 電圧 (バイポーラ) | 2121 | VPK |
VIOWM | 最大動作絶縁電圧 | AC 電圧、経時絶縁破壊 (TDDB) テスト、図 10-8 を参照 | 1500 | VRMS |
DC 電圧 | 2121 | VDC | ||
VIOTM | 最大過渡絶縁電圧 | VTEST = VIOTM、 t = 60s (認定) VTEST = 1.2 × VIOTM、 t = 1s (100% 出荷時) |
7071 | VPK |
VIOSM | 最大サージ絶縁電圧(3) | IEC 62368-1 に準拠したテスト手法、1.2/50μs 波形、 VTEST = 1.6 × VIOSM = 10,000VPK (認定) |
6250 | VPK |
qpd | 見掛けの放電電荷(4) | メソッド a、入力 / 出力安全テスト・サブグループ 2/3 の後、 Vini = VIOTM、tini = 60s、 Vpd(m) = 1.2 × VIORM、tm = 10s |
≦5 | pC |
メソッド a、環境テスト・サブグループ 1 の後、 Vini = VIOTM、tini = 60s、 Vpd(m) = 1.6 × VIORM、tm = 10s |
≦5 | |||
メソッド b、ルーチン・テスト (100% 出荷時) および事前条件設定 (タイプ・テスト) の場合、 Vini = 1.2 × VIOTM、tini = 1s、 Vpd(m) = 1.875 × VIORM、tm = 1s |
≦5 | |||
CIO | 絶縁バリア容量、入力から出力へ(5) | VIO = 0.4 × sin (2πft)、f = 1MHz | ~1 | pF |
RIO | 絶縁抵抗(5) | VIO = 500V (TA = 25℃時) | >1012 | Ω |
VIO = 500V (100℃ < TA ≦ 125℃時) | >1011 | |||
VIO = 500V (TS = 150℃時) | >109 | |||
汚染度 | 2 | |||
耐候性カテゴリ | 40/125/21 | |||
UL 1577 | ||||
VISO | 最大絶縁耐性電圧 | VTEST = VISO、t = 60s (認定)、 VTEST = 1.2 × VISO、t = 1s (100% 出荷時) |
5000 | VRMS |