産業用

高信頼性製品 – 技術資料

エレクトロニクスのための放射線ハンドブック

TI の『エレクトロニクスのための放射線ハンドブック』は、放射線がエレクトロニクスに及ぼす影響に関する包括的なガイドです。TI のエキスパート・チームが数十年にわたって蓄積してきた知識に基づいて構築した、この 100 ページ以上の e-book(PDF)は、設計に関連する最新の検討事項を掲載しており、宇宙、産業用、自然環境の各アプリケーションに携わるエンジニアの皆様のお役に立ちます。設計に携わった経験の有無や程度にかかわらず、以下の事項を確認できます。

  • 放射線環境の概要、IC デバイスに及ぼす影響、その影響を緩和する方法
  • 放射線認定を取得するうえで必要な試験、手順、要件
  • TI の宇宙グレード IC 製品ラインアップを採用する場合の利点 

少しでもご興味がおありでしたら、今すぐ放射線ハンドブックのプレビューをご覧ください。  

Radiation Handbook for Electronics

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著者について

ロバート・バウマン、TI 名誉フェロー、チーフ・テクノロジスト

ロバートは、特定の IC 層において低エネルギーの宇宙線中性子が 10B と反応を起こすと信頼性への重大なリスクが生じることを発見し、製品の故障率を直接 10 分の 1 にする低減スキームを開発しました。

 

TI における 29 年のキャリアの中で、放射線効果の革新を工業界に何度も巻き起こし、国際標準の開発や米国輸出管理法の改正を担当したほか、TI ダラスおよび日本 TI のさまざまなグループでテクニカル・リーダーを歴任しました。TI および IEEE フェローに選出されており、共著/単著による論文は 90 を超え、書籍に 2 つの章を寄稿、15 の米国特許を保有しています。> 2018 年に TI を退職しました。

ロバート・バウマン

カービィ・クルックマイヤー、テクニカル・スタッフ・シニア・メンバー

およそ 40 年にわたるナショナル・セミコンダクター/テキサス・インスツルメンツでのキャリアの中で、カービィは半導体テクノロジーの幅広い分野で経験を積み、エレクトロニクスにおける放射線効果の専門知識を習得しました。 ウェハー処理、半導体物理学、放射線強化処理、ELDRS フリー処理、設計および革新的な放射線試験技法による放射線強化に取り組み、多大な寄与をもたらしています。

カービィ・クルックマイヤー

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日付
LDO Noise Demystified PDF 845 18 Aug 2020
Failure Containment in Spacecraft Point-of-Load Power Supplies PDF 334 30 Apr 2020
High Reliability Part Numbering System PDF 326 28 Oct 2019

セレクション・ガイド

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日付
Enhanced Products Guide PDF 531 11 Oct 2019
TI Space Products PDF 5596 15 May 2019

放射線と信頼性レポート

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タイトル
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日付
LM239A-EP quad differential comparator reliability report PDF 587 20 Apr 2020
Single-Event Effects Test Report for TMP461-SP High-Accuracy Remote and Local PDF 3128 12 Feb 2020
SN74LVC1G04MDBVREP Reliability Report PDF 89 28 Jan 2020