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製品の詳細

パラメータ

Sample rate (Max) (MSPS) 210 Resolution (Bits) 12 Number of input channels 1 Analog input BW (MHz) 800 Features Low Power Rating Catalog Input range (Vp-p) 2 Power consumption (Typ) (mW) 1230 Architecture Pipeline SNR (dB) 70.7 ENOB (Bits) 11.4 SFDR (dB) 86 Operating temperature range (C) -40 to 85 Input buffer No open-in-new その他の 高速 ADCs (>10MSPS)

パッケージ|ピン|サイズ

VQFN (RGZ) 48 49 mm² 7.0 x 7.0 open-in-new その他の 高速 ADCs (>10MSPS)

特長

  • Maximum Sample Rate: 210 MSPS
  • 12-Bit Resolution
  • No Missing Codes
  • Total Power Dissipation 1.23 W
  • Internal Sample and Hold
  • 70.5-dBFS SNR at 70-MHz IF
  • 84-dBc SFDR at 70-MHz IF, 0-dB gain
  • High Analog Bandwith up to 800 MHz
  • Double Data Rate (DDR) LVDS and Parallel CMOS Output Options
  • Programmable Gain up to 6 dB for SNR/SFDR Trade-Off at High IF
  • Reduced Power Modes at Lower Sample Rates
  • Supports Input Clock Amplitude Down to
    400 mVPP
  • Clock Duty Cycle Stabilizer
  • No External Reference Decoupling Required
  • Internal and External Reference Support
  • Programmable Output Clock Position to Ease Data Capture
  • 3.3-V Analog and Digital Supply
  • 48-QFN Package (7 mm × 7 mm)
  • APPLICATIONS
    • Wireless Communications Infrastructure
    • Software Defined Radio
    • Power Amplifier Linearization
    • 802.16d/e
    • Test and Measurement Instrumentation
    • High Definition Video
    • Medical Imaging
    • Radar Systems

open-in-new その他の 高速 ADCs (>10MSPS)

概要

ADS5527 is a high performance 12-bit, 210-MSPS A/D converter. It offers state-of-the art functionality and performance using advanced techniques to minimize board space. With high analog bandwidth and low jitter input clock buffer, the ADC supports both high SNR and high SFDR at high input frequencies. It features programmable gain options that can be used to improve SFDR performance at lower full-scale analog input ranges.

In a compact 48-pin QFN, the device offers fully differential LVDS DDR (Double Data Rate) interface while parallel CMOS outputs can also be selected. Flexible output clock position programmability is available to ease capture and trade-off setup for hold times. At lower sampling rates, the ADC can be operated at scaled down power with no loss in performance. The ADS5527 includes an internal reference, while eliminating the traditional reference pins and associated external decoupling. The device also supports an external reference mode.

The device is specified over the industrial temperature range (-40°C to 85°C).

open-in-new その他の 高速 ADCs (>10MSPS)
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技術資料

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種類 タイトル 英語版のダウンロード 日付
* データシート 12-Bit, 210 MSPS ADC With DDR LVDS/CMOS Outputs データシート 2007年 5月 7日
技術記事 How to achieve fast frequency hopping 2019年 3月 3日
技術記事 RF sampling: Learning more about latency 2017年 2月 9日
技術記事 Why phase noise matters in RF sampling converters 2016年 11月 28日
技術記事 How to minimize filter loss when you drive an ADC 2016年 10月 20日
アプリケーション・ノート Design Considerations for Avoiding Timing Errors during High-Speed ADC, LVDS Dat 2015年 5月 22日
アプリケーション・ノート Why Use Oversampling when Undersampling Can Do the Job? 2013年 7月 19日
アプリケーション・ノート Driving High-Speed ADCs: Circuit Topologies and System-Level Parameters (英語) 2010年 9月 10日
アプリケーション・ノート 高速データ変換 英語版をダウンロード 2009年 12月 11日
アプリケーション・ノート データ収集と A/D 変換の原理 最新の英語版をダウンロード (Rev.A) 2009年 8月 5日
ユーザー・ガイド ADS61X9/55XX EVM User's Guide 2009年 6月 11日
アプリケーション・ノート Smart Selection of ADC/DAC enables better design of Software Defined Radio (SDR) 2009年 4月 28日
アプリケーション・ノート データ・コンバータのドリフトに関する設計者の必須知識: 最悪劣化度の構成要素を理解して仕様の条件を減らす 英語版をダウンロード 2009年 4月 22日
アプリケーション・ノート CDCE62005 Application Report 2008年 9月 4日
アプリケーション・ノート CDCE72010 as clocking solution for High Speed Analog-to-Digital Converters 2008年 6月 8日
アプリケーション・ノート Phase Noise Performance and Jitter Cleaning Ability of CDCE72010 2008年 6月 2日
アプリケーション・ノート アナログ・デジタルの仕様とパフォーマンス特性の用語集 (Rev. A 翻訳版) 最新の英語版をダウンロード (Rev.B) 2008年 1月 18日
ユーザー・ガイド ADS5545/46 EVM User's Guide 2008年 1月 3日
アプリケーション・ノート QFN Layout Guidelines 2006年 7月 28日

設計と開発

追加の事項や他のリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックすると、詳細ページを表示できます。

ハードウェア開発

評価基板 ダウンロード
document-generic ユーザー・ガイド
概要

The ADS5517EVM is a circuit board that allows designers to evaluate the performance of Texas Instruments‘ ADS5517 device, an 11 bit 200 MSPS analog to digital converter. The circuit board allows for the ability to evaluate the ADS5517 operating in either DDR LVDS output mode or CMOS output (...)

特長
  • Isolated analog 3.3 V supplies and digital 3.3 V supplies
  • ADC evaluation in DDR LVDS mode
  • ADC evaluation in CMOS mode
  • CMOS logic analyzer output header
  • TI THS4509 or transformer coupled analog input path
  • Onboard programmable FPGA
  • FPGA power management provided by the TI TPS75003
  • Expansion module capability

ソフトウェア開発

プログラミング・ツール ダウンロード
サポート・ソフトウェア ダウンロード
高速データ・コンバータ・プロ・ソフトウェア
DATACONVERTERPRO-SW This high-speed data converter pro GUI is a PC (Windows® XP/7 compatible) program designed to aid in evaluation of most TI high-speed data converter and analog front-end (AFE) platforms. Designed to support the entire TSW14xxx series of data-capture and pattern-generation cards (...)
特長
  • Compatible with TSW1400, TSW1405, TSW1406 and TSW14J10, TSW14J50, TSW14J56, and TSW14J57 pattern-generation and data-capture platforms
  • Works with all TI high-speed DAC, ADC, and AFE products
  • Provides time-domain and frequency-domain analysis
  • Supports single-tone, multi-tone, and modulated (...)

設計ツールとシミュレーション

シミュレーション・モデル ダウンロード
SLWM001.ZIP (240 KB) - IBIS Model
計算ツール ダウンロード
ジッタおよび SNR カリキュレータ、ADC 用
JITTER-SNR-CALC JITTER-SNR-CALC の使用により、入力周波数とクロック・ジッタに基づく ADC の理論上の信号対ノイズ比(SNR)性能の計算が可能になります。

CAD/CAE シンボル

パッケージ ピン数 ダウンロード
VQFN (RGZ) 48 オプションの表示

購入と品質

サポートとトレーニング

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