ホーム ロジックと電圧変換 フリップ・フロップ、ラッチ、レジスタ D タイプ・ラッチ
ホーム
ロジックと電圧変換
フリップ・フロップ、ラッチ、レジスタ
D タイプ・ラッチ

CD4508B

アクティブ

CMOS デュアル 4 ビット・ラッチ

ご注文はこちら
データシート

CD4508B

アクティブ
データシート ご注文はこちら

製品詳細

Number of channels 8 Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Input type Standard CMOS Output type 3-State Clock frequency (max) (MHz) 8 IOL (max) (mA) 2.4 IOH (max) (mA) -2.4 Supply current (max) (µA) 3000 Features High speed (tpd 10-50ns), Partial power down (Ioff), Standard speed (tpd > 50ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Catalog
Number of channels 8 Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Input type Standard CMOS Output type 3-State Clock frequency (max) (MHz) 8 IOL (max) (mA) 2.4 IOH (max) (mA) -2.4 Supply current (max) (µA) 3000 Features High speed (tpd 10-50ns), Partial power down (Ioff), Standard speed (tpd > 50ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Catalog
SOIC (DW) 24 159.65 mm² 15.5 x 10.3 SOP (NS) 24 117 mm² 15 x 7.8 TSSOP (PW) 24 49.92 mm² 7.8 x 6.4
  • Two independent 4-bit latches
  • Individual master reset for each 4-bit latch
  • 3-state outputs with high-impedance state for bus line applications
  • Medium-speed operation: tPHL = tPLH = 70 ns (typ.) at VDD = 10 V and CL = 50 pF
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Standardized, symmetrical output characteristics
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise margin (full package-temperature range) =
            1 V at VDD = 5 V
            2 V at VDD = 10 V
         2.5 V at VDD = 15 V
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices"
  • Applications:
    • Buffer storage
    • Holding registers
    • Data storage and multiplexing
  • Two independent 4-bit latches
  • Individual master reset for each 4-bit latch
  • 3-state outputs with high-impedance state for bus line applications
  • Medium-speed operation: tPHL = tPLH = 70 ns (typ.) at VDD = 10 V and CL = 50 pF
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Standardized, symmetrical output characteristics
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise margin (full package-temperature range) =
            1 V at VDD = 5 V
            2 V at VDD = 10 V
         2.5 V at VDD = 15 V
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices"
  • Applications:
    • Buffer storage
    • Holding registers
    • Data storage and multiplexing

CD4508B dual 4-bit latch contains two identical 4-bit latches with separate STROBE, RESET, and OUTPUT DISABLE control. With the STROBE line in the high state, the data on the "D" inputs appear at the corresponding "Q" outputs provided the DISABLE line is in the low state. Changing the STROBE line to the low state locks the data into the latch. A high on the reset line forces the outputs to a low level regardless of the state of the STROBE input. The outputs are forced to the high-impedance state for bus line applications by a high level on the DISABLE input.

The CD4508B types are supplied in 24-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 24-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 24-lead small-outline packages (M, M96, and NSR suffixes), and 24-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).

The CD4508B is similar to industry type MC14508.

CD4508B dual 4-bit latch contains two identical 4-bit latches with separate STROBE, RESET, and OUTPUT DISABLE control. With the STROBE line in the high state, the data on the "D" inputs appear at the corresponding "Q" outputs provided the DISABLE line is in the low state. Changing the STROBE line to the low state locks the data into the latch. A high on the reset line forces the outputs to a low level regardless of the state of the STROBE input. The outputs are forced to the high-impedance state for bus line applications by a high level on the DISABLE input.

The CD4508B types are supplied in 24-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 24-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 24-lead small-outline packages (M, M96, and NSR suffixes), and 24-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).

The CD4508B is similar to industry type MC14508.
open-in-new その他の D タイプ・ラッチ を検索
ダウンロード 字幕付きのビデオを表示 ビデオ

お客様が関心を持ちそうな類似品

open-in-new 代替品と比較
比較対象デバイスと同等の機能で、ピン互換製品
SN74LVC573A アクティブ 3 ステート出力、オクタル・トランスペアレント D タイプ・ラッチ Smaller voltage range (1.65V to 5.5V), shorter average propagation delay (5.5ns), higher average drive strength (24mA)

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
9 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート CD4508B TYPES データシート (Rev. B) 2003年 6月 16日
アプリケーション・ノート Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) PDF | HTML 2022年 12月 15日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
ユーザー・ガイド Signal Switch Data Book (Rev. A) 2003年 11月 14日
アプリケーション・ノート Understanding Buffered and Unbuffered CD4xxxB Series Device Characteristics 2001年 12月 3日

設計と開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
パッケージ ピン数 ダウンロード
SOIC (DW) 24 オプションの表示
SOP (NS) 24 オプションの表示
TSSOP (PW) 24 オプションの表示
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 材質成分
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

投稿されたすべてのフォーラムトピック (英語) を表示

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​

ビデオ