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CD4572UB

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CMOS ヘキサ・ゲート (4 個のインバータ、1 個の 2 入力 NOR ゲート、1 個の 2 入力 NAND ゲート)

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CD4572UB

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製品詳細

Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Number of channels 6 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 6.8 IOH (max) (mA) -6.8 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Standard speed (tpd > 50ns) Data rate (max) (Mbps) 16 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Number of channels 6 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 6.8 IOH (max) (mA) -6.8 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Standard speed (tpd > 50ns) Data rate (max) (Mbps) 16 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
PDIP (N) 16 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6 SOP (NS) 16 79.56 mm² 10.2 x 7.8 TSSOP (PW) 16 32 mm² 5 x 6.4
  • Pin 7 NOR input positioned adjacent to VSS for easy use of gate as an inverter
  • Pin 15 NAND input positioned adjacent to VDD for easy use of gate as an inverter
  • Standard symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range:
       100 nA at 18 V and 25°C
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of 'B' Series CMOS Devices"
  • Pin 7 NOR input positioned adjacent to VSS for easy use of gate as an inverter
  • Pin 15 NAND input positioned adjacent to VDD for easy use of gate as an inverter
  • Standard symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range:
       100 nA at 18 V and 25°C
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of 'B' Series CMOS Devices"

CD4572UB Hex Gate provides the system designer with direct implementation of inverter, NAND, and NOR functions and supplements the existing family of CMOS gates.

The CD4572UB devices meet all requirements of JEDEC Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of 'B' Series CMOS Devices."

The CD4572UB types are supplied in 16-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 16-lead small-outline packages (M, M96, MT, and NSR suffixes), and 16-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).

CD4572UB Hex Gate provides the system designer with direct implementation of inverter, NAND, and NOR functions and supplements the existing family of CMOS gates.

The CD4572UB devices meet all requirements of JEDEC Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of 'B' Series CMOS Devices."

The CD4572UB types are supplied in 16-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 16-lead small-outline packages (M, M96, MT, and NSR suffixes), and 16-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).
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SN74HC04 アクティブ 6 チャネル、2V ～ 6V インバータ Voltage range (2V to 6V), average drive strength (8mA), average propagation delay (20ns)
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート CD4572UB TYPES データシート (Rev. C) 2003年 10月 13日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
ユーザー・ガイド Signal Switch Data Book (Rev. A) 2003年 11月 14日
アプリケーション・ノート Understanding Buffered and Unbuffered CD4xxxB Series Device Characteristics 2001年 12月 3日

設計と開発

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評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
パッケージ ピン数 ダウンロード
PDIP (N) 16 オプションの表示
SOIC (D) 16 オプションの表示
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TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 材質成分
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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