CD74AC373
- Buffered inputs
- Typical pro-agation delay:
4.3 ns @ VCC = 5 V, TA = 25°C, CL = 50 pF - Exceeds 2-kV ESD Protection - MIL-STD-883, Method 3015
- SCR-Latchup-resistant CMOS process and circuit design
- Speed of bipolar FAST*/AS/S with significantly reduced power consumption
- Balanced propagation delays
- AC types feature 1.5-V to 5.5-V operation and balanced noise immunity at 30% of the supply
- ± 24-mA output drive current
-Fanout to 15 FAST* ICs
-Drives 50-ohm transmission lines - Characterized for operation from –40° to 85°C
*FAST is a Registered Trademark of Fairchild Semicondutor Corp.
The RCA-CD54/74AC373 and CD54/74AC533 and the CD54/74ACT373 and CD54/74ACT533 octal transparent 3-state latches use the RCA ADVANCED CMOS technology. The outputs are transparent to the inputs when the Latch Enable (LE\) is HIGH. When the Latch Enable (LE\) goes LOW, the data is latched. The Output Enable (OE\) controls the 3-sate outputs. When the Output Enable (OE\) is HIGH, the outputs are in the high-impedance state. The latch operation is independent of the state of the Output Enable.
The CD74AC/ACT373 and CD74AC/ACT533 are supplied in 20-lead dual-in-line plastic package (E suffix) and in 20-lead dual-in-line small-outline plastic packages (M suffix). Both package types are operable over the following temperature ranges: Commerical (0 to 70°C); Industrial (-40 to +85°C); and Extended Industrial/Military (-55 to +125°C).
The CD54AC/ACT373 and CD54AC/ACT533, available in chip form (H suffix), are operable over the -55 to +125°C temperature range.
お客様が関心を持ちそうな類似品
比較対象デバイスと同等の機能で、ピン互換製品
技術資料
設計と開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板
14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。
パッケージ | ピン数 | ダウンロード |
---|---|---|
PDIP (N) | 20 | オプションの表示 |
SOIC (DW) | 20 | オプションの表示 |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 材質成分
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点