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TLC2543-EP

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エンハンスド製品、シリアル制御、11 個のアナログ入力採用、12 ビット、A/D コンバータ (ADC)

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TLC2543-EP

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製品詳細

Resolution (Bits) 12 Sample rate (max) (ksps) 66 Number of input channels 11 Interface type SPI Architecture SAR Input type Single-ended Multichannel configuration Multiplexed Rating HiRel Enhanced Product Reference mode External Input voltage range (max) (V) 5.5 Input voltage range (min) (V) 0 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Power consumption (typ) (mW) 5 Analog supply (min) (V) 4.5 Analog supply voltage (max) (V) 5.5 Digital supply (min) (V) 4.5 Digital supply (max) (V) 5.5
Resolution (Bits) 12 Sample rate (max) (ksps) 66 Number of input channels 11 Interface type SPI Architecture SAR Input type Single-ended Multichannel configuration Multiplexed Rating HiRel Enhanced Product Reference mode External Input voltage range (max) (V) 5.5 Input voltage range (min) (V) 0 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Power consumption (typ) (mW) 5 Analog supply (min) (V) 4.5 Analog supply voltage (max) (V) 5.5 Digital supply (min) (V) 4.5 Digital supply (max) (V) 5.5
SOIC (DW) 20 131.84 mm² 12.8 x 10.3 SSOP (DB) 20 56.16 mm² 7.2 x 7.8
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -40°C to 125°C (TLC2543Q) and -55°C to 125°C (TLC2543M)
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • 12-Bit-Resolution Analog-to-Digital Converter (ADC)
  • 10-µs Conversion Time Over Operating Temperature
  • 11 Analog Input Channels
  • Three Built-In Self-Test Modes
  • Inherent Sample-and-Hold Function
  • Linearity Error . . . ±1 LSB Max
  • On-Chip System Clock
  • End-of-Conversion (EOC) Output
  • Unipolar or Bipolar Output Operation (Signed Binary With Respect to 1/2 the Applied Voltage Reference)
  • Programmable Most Significant Bit (MSB) or Least Significant Bit (LSB) First
  • Programmable Power Down
  • Programmable Output Data Length
  • CMOS Technology
  • Application Report Available(2)

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

(2) Microcontroller Based Data Acquisition Using the TLC2543 12-bit Serial-Out ADC (SLAA012)
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -40°C to 125°C (TLC2543Q) and -55°C to 125°C (TLC2543M)
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • 12-Bit-Resolution Analog-to-Digital Converter (ADC)
  • 10-µs Conversion Time Over Operating Temperature
  • 11 Analog Input Channels
  • Three Built-In Self-Test Modes
  • Inherent Sample-and-Hold Function
  • Linearity Error . . . ±1 LSB Max
  • On-Chip System Clock
  • End-of-Conversion (EOC) Output
  • Unipolar or Bipolar Output Operation (Signed Binary With Respect to 1/2 the Applied Voltage Reference)
  • Programmable Most Significant Bit (MSB) or Least Significant Bit (LSB) First
  • Programmable Power Down
  • Programmable Output Data Length
  • CMOS Technology
  • Application Report Available(2)

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

(2) Microcontroller Based Data Acquisition Using the TLC2543 12-bit Serial-Out ADC (SLAA012)

The TLC2543 is a 12-bit, switched-capacitor, successive-approximation, analog-to-digital converter (ADC). This device, with three control inputs [chip select (CS), input-output clock (I/O CLOCK), and address input (DATA INPUT)], is designed for communication with the serial port of a host processor or peripheral through a serial 3-state output. The device allows high-speed data transfers from the host.

In addition to the high-speed converter and versatile control capability, the device has an on-chip 14-channel multiplexer that can select any 1 of 11 inputs or any 1 of 3 internal self-test voltages. The sample-and-hold function is automatic. At the end of conversion, the end-of-conversion (EOC) output goes high to indicate that conversion is complete. The converter incorporated in the device features differential high-impedance reference inputs that facilitate ratiometric conversion, scaling, and isolation of analog circuitry from logic and supply noise. A switched-capacitor design allows low-error conversion over the full operating temperature range.

The TLC2543 is a 12-bit, switched-capacitor, successive-approximation, analog-to-digital converter (ADC). This device, with three control inputs [chip select (CS), input-output clock (I/O CLOCK), and address input (DATA INPUT)], is designed for communication with the serial port of a host processor or peripheral through a serial 3-state output. The device allows high-speed data transfers from the host.

In addition to the high-speed converter and versatile control capability, the device has an on-chip 14-channel multiplexer that can select any 1 of 11 inputs or any 1 of 3 internal self-test voltages. The sample-and-hold function is automatic. At the end of conversion, the end-of-conversion (EOC) output goes high to indicate that conversion is complete. The converter incorporated in the device features differential high-impedance reference inputs that facilitate ratiometric conversion, scaling, and isolation of analog circuitry from logic and supply noise. A switched-capacitor design allows low-error conversion over the full operating temperature range.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート TLC2543-EP データシート (Rev. A) 2006年 11月 2日
* VID TLC2543-EP VID V6203614 2016年 6月 21日
* 放射線と信頼性レポート TLC2543MDBREP Reliability Report 2016年 2月 16日
* 放射線と信頼性レポート TLC2543QDWREP Reliability Report 2014年 12月 22日
e-Book（PDF） Best of Baker's Best: Precision Data Converters -- SAR ADCs 2015年 5月 21日
アプリケーション・ノート Determining Minimum Acquisition Times for SAR ADCs, part 2 2011年 3月 17日

設計と開発

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ユーザー ガイド: PDF
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SSOP (DB) 20 オプションの表示
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 材質成分
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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