TPS25946
- 広い動作時入力電圧範囲：2.7V～23V
- 絶対最大定格：28V
- 低いオン抵抗を持つバック・ツー・バック FET を内蔵：RON = 28.3mΩ (標準値)
- オン状態での双方向電流フロー
- オフ状態での逆電流ブロック
- 高速過電圧保護
- 調整可能な過電圧誤動作防止 (OVLO) (1.2µs (標準値) の応答時間)
- 負荷電流監視出力 (ILM) による順方向の過電流保護
- アクティブな電流制限応答
- 調整可能なスレッショルド (ILIM)：0.5A～6A
- 精度：±10% (ILIM > 1A)
- 可変の過渡ブランキング・タイマ (ITIMER)、最大 2 × ILIM のピーク電流を許容
- 出力負荷電流監視精度：±6% (IOUT ≥ 1A)
- OUT ピンの短絡保護の高速トリップ応答
- 応答時間 500ns (標準値)
- 可変 (2 × ILIM) および固定のスレッショルド
- アクティブ HIGH のイネーブル入力、低電圧誤動作防止 (UVLO) スレッショルドを設定可能
- 可変の出力スルー・レート (dVdt) 制御
- 過熱保護
- デジタル表示オプション：
- 可変スレッショルド (PGTH) 付きのパワー・グッド表示 (PG) または
- サプライ・グッド (SPLYGD) およびフォルト (FLT) の表示
- UL 2367 認定
- ファイル番号 E339631
-
RILIM ≥ 549Ω
- IEC 62368-1 CB 認証
- 小型サイズ：QFN 2mm × 2mm (0.45mm ピッチ)
TPS25946xx ファミリの eFuse は、小さなパッケージに搭載され、高度に統合された回路保護および電源管理ソリューションです。このデバイスは、非常に少ない数の外付け部品で複数の保護モードを提供し、過負荷、短絡、電圧サージ、および過剰な突入電流に対して堅牢な保護を行います。このデバイスにはバック・ツー・バック FET が内蔵されており、オン状態での双方向電流フローを実現しながら、オフ状態での双方向電流フローをブロックできるため、 USB OTG (On-the-Go) アプリケーションに適しています。
出力のスルー・レートと突入電流は、単一の外付けコンデンサを使用して調整できます。入力が過電圧スレッショルド (調整可能) を上回った場合は、出力を遮断することにより負荷を入力過電圧状態から保護します。このデバイスは、電流をアクティブに制限することで、出力過負荷に対応します。出力電流制限スレッショルドおよび過渡過電流ブランキング・タイマは、ユーザーが調整可能です。電流制限制御ピンは、アナログ負荷電流モニタとしても機能します。
これらのデバイスは、2mm × 2mm、10 ピンの HotRod QFN パッケージで供給され、放熱性能の向上とシステムのフットプリントの削減に役立ちます。
これらのデバイスは、-40°C～+125°Cの接合部温度範囲で動作が規定されています。
技術資料
| 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | TPS25946xx 双方向電流サポート付き 2.7V～23V、5.5A、28mΩ eFuse データシート (Rev. B 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2022年 6月 3日 |
| 証明書 | TPS25946x UL2367 Certificate of Compliance E339631 | 2022年 1月 24日 | ||||
| 証明書 | TPS25946x CB Test Certificate IEC 62368-1 | 2022年 1月 19日 | ||||
| 証明書 | TPS25946x UL2367 Certificate of Compliance E169910 | 2022年 1月 19日 | ||||
| EVM ユーザー ガイド (英語) | TPS25946EVM: Evaluation Module for TPS25946 eFuse (Rev. A) | PDF | HTML | 2021年 8月 27日 |
設計と開発
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| パッケージ | ピン数 | ダウンロード |
|---|---|---|
| VQFN-HR (RPW) | 10 | オプションの表示 |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 材質成分
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。