TI の IC とリファレンス・デザインは自動車の製造とサービス（メンテナンス）時にすべての車載サブシステムを高精度でテスト可能な車載テスト機器の設計を可能にします。
新世代車載テスト機器の要件：
| タイトル | 種類 | サイズ (KB) | 日付 | 英語版 |
|---|---|---|---|---|
| 8.6 MB | 2016年 6月 20日 | |||
| 261 KB | 2016年 5月 17日 | |||
| 761 KB | 2015年 5月 18日 | |||
| 146 KB | 2015年 4月 28日 | |||
| 132 KB | 2015年 4月 16日 | |||
| 615 KB | 2014年 10月 29日 | |||
| 219 KB | 2011年 10月 5日 | |||
| 1.13 MB | 2009年 7月 14日 |
| タイトル | 種類 | サイズ (MB) | 日付 | 英語版 |
|---|---|---|---|---|
| 688 KB | 2018年 2月 1日 | |||
| 1.25 MB | 2016年 9月 15日 | |||
| 3.07 MB | 2016年 8月 1日 | |||
| 2.13 MB | 2016年 3月 31日 | |||
| 1.13 MB | 2015年 2月 11日 |
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