LCD テスト

LCD 試験機器

設計上の考慮事項

TI の IC とリファレンス・デザインはリファレンス電圧の負荷、クロッキング、電源によるチャネル間のばらつきを最小化する、高密度の高性能マルチ・チャネル LCD(液晶ディスプレイ)テスト機器の設計を可能にします。

    新世代 LCD テスト機器の一般的な要件:

  • 高精度、高電圧の複数チャネル同時測定能力。
  • 測定時にチャネル間のばらつきが最小。
  • ショート・バー・テスト向けの大電流ドライブを高い電圧精度で生成。
  • 高集積、効率的、低 EMI の電源アーキテクチャ。
View more

技術資料

アプリケーション・ノート

アプリケーション・ノート (5)

タイトル 種類 サイズ (KB) 日付 英語版
PDF 448 KB 2021年 1月 28日
PDF 5.76 MB 2019年 12月 16日 最新の英語版をダウンロード (Rev.C)
PDF 78 KB 2017年 6月 14日
PDF 867 KB 2016年 9月 19日
PDF 132 KB 2015年 4月 16日

製品カタログ/ホワイト・ペーパー

ホワイト・ペーパー (1)

タイトル 種類 サイズ (MB) 日付 英語版
PDF 1.2 MB 2018年 10月 23日

技術記事

サポートとトレーニング

TI E2E™ Forums (英語) では、TI のエンジニアからの技術サポートが活用できます

技術的な質問と回答を豊富に掲載している TI の包括的なオンライン・ナレッジ・ベースは 24 時間 365 日ご利用になれます。

TI のエキスパートによる回答の検索

コミュニティ内のコンテンツは、個別の TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。
使用条件をご確認ください

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI のサポート・ページをご覧ください