TI の IC とリファレンス・デザインはリファレンス電圧の負荷、クロッキング、電源によるチャネル間のばらつきを最小化する、高密度の高性能マルチ・チャネル LCD(液晶ディスプレイ)テスト機器の設計を可能にします。
新世代 LCD テスト機器の一般的な要件:
タイトル | 種類 | サイズ (KB) | 日付 | 英語版 |
---|---|---|---|---|
107 KB | 2018年 8月 31日 | |||
78 KB | 2017年 6月 14日 | |||
867 KB | 2016年 9月 19日 | |||
132 KB | 2015年 4月 16日 | |||
219 KB | 2011年 10月 5日 |
タイトル | 種類 | サイズ (MB) | 日付 | 英語版 |
---|---|---|---|---|
1.2 MB | 2018年 10月 23日 | |||
1.25 MB | 2016年 9月 15日 | |||
1011 KB | 2016年 1月 26日 |
技術的な質問と回答を豊富に掲載している TI の包括的なオンライン・ナレッジ・ベースは 24 時間 365 日ご利用になれます。
TI のエキスパートによる回答の検索
コミュニティ内のコンテンツは、個別の TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。
使用条件をご確認ください。
TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI のサポート・ページをご覧ください。