TI の IC とリファレンス・デザインはリファレンス電圧の負荷、クロッキング、電源によるチャネル間のばらつきを最小化する、高密度の高性能マルチ・チャネル LCD(液晶ディスプレイ)テスト機器の設計を可能にします。
新世代 LCD テスト機器の一般的な要件:
タイトル | 種類 | サイズ (KB) | 日付 | 英語版 |
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5.76 MB | 2019年 12月 16日 | 英語版をダウンロード (Rev.B) | ||
78 KB | 2017年 6月 14日 | |||
867 KB | 2016年 9月 19日 | |||
132 KB | 2015年 4月 16日 |
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