TI の IC とリファレンス・デザインはリファレンス電圧の負荷、クロッキング、電源によるチャネル間のばらつきを最小化する、高密度の高性能マルチ・チャネル LCD（液晶ディスプレイ）テスト機器の設計を可能にします。
新世代 LCD テスト機器の一般的な要件：
| タイトル | 種類 | サイズ (KB) | 日付 | 英語版 |
|---|---|---|---|---|
| 5.76 MB | 2019年 12月 16日 | 英語版をダウンロード (Rev.B) | ||
| 78 KB | 2017年 6月 14日 | |||
| 867 KB | 2016年 9月 19日 | |||
| 132 KB | 2015年 4月 16日 |
技術的な質問と回答を豊富に掲載している TI の包括的なオンライン・ナレッジ・ベースは 24 時間 365 日ご利用になれます。
TI のエキスパートによる回答の検索
コミュニティ内のコンテンツは、個別の TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。
使用条件をご確認ください。
TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI のサポート・ページをご覧ください。