TI の IC とリファレンス・デザインはリファレンス電圧の負荷、クロッキング、電源によるチャネル間のばらつきを最小化する、高密度の高性能マルチ・チャネル LCD（液晶ディスプレイ）テスト機器の設計を可能にします。
新世代 LCD テスト機器の一般的な要件：
| タイトル | 種類 | サイズ (KB) | 日付 | 英語版 |
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| 107 KB | 2018年 8月 31日 | |||
| 78 KB | 2017年 6月 14日 | |||
| 867 KB | 2016年 9月 19日 | |||
| 132 KB | 2015年 4月 16日 | |||
| 219 KB | 2011年 10月 5日 |
| タイトル | 種類 | サイズ (MB) | 日付 | 英語版 |
|---|---|---|---|---|
| 1.2 MB | 2018年 10月 23日 | |||
| 1.25 MB | 2016年 9月 15日 | |||
| 1011 KB | 2016年 1月 26日 |
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