TI の IC とリファレンス・デザインは、高速センシングやアクチュエータとの低レイテンシ通信を実施する、高速かつ高精度の光学検査システムの設計と製作に役立ちます。
光学検査システムの一般的な要件：
| タイトル | 種類 | サイズ (MB) | 日付 | 英語版 |
|---|---|---|---|---|
| 581 KB | 2021年 1月 20日 | |||
| 4.21 MB | 2018年 10月 22日 | 最新の英語版をダウンロード (Rev.B) |
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