ソース・メジャー・ユニット(SMU)

ソース生成 - ソース計測ユニット(SMU)

設計上の考慮事項

TI の IC とリファレンス・デザインは、半導体および他の機器の高精度テストと特性評価に使用する高精度ソース測定ユニット (source measurement units、SMU) の製作に貢献します。

次世代ソース測定ユニットの要件:

  • 高電圧での電流の生成能力と測定能力。
  • ダイナミック・レンジが広く、精度の高い制御機能と測定機能。
  • パラメータの調整とエージェントの使用状況の監視に使用する直観的なインターフェイス。
  • デバイスの自己発熱を防止するパルス・モードのサポート。
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技術資料

アプリケーション・ノート

アプリケーション・ノート (7)

タイトル 種類 サイズ (KB) 日付 英語版
PDF 448 KB 2021年 1月 28日
PDF 518 KB 2020年 12月 17日
PDF 2.69 MB 2020年 9月 30日
PDF 5.85 MB 2019年 12月 17日 最新の英語版をダウンロード (Rev.B)
PDF 5.76 MB 2019年 12月 16日 最新の英語版をダウンロード (Rev.C)
PDF 78 KB 2017年 6月 14日
PDF 132 KB 2015年 4月 16日

製品カタログ/ホワイト・ペーパー

ホワイト・ペーパー (5)

タイトル 種類 サイズ (MB) 日付 英語版
PDF 688 KB 2018年 2月 1日
PDF 1.2 MB 2017年 4月 4日 英語版をダウンロード
PDF 149 KB 2016年 11月 8日
PDF 3.07 MB 2016年 8月 1日
PDF 2.13 MB 2016年 3月 31日

技術記事

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