TI の IC とリファレンス・デザインは半導体などのデバイスの高精度テストと特性評価のための高精度ソース測定ユニットの設計を可能にします。
次世代ソース測定ユニットの要件：
| タイトル | 種類 | サイズ (KB) | 日付 | 英語版 |
|---|---|---|---|---|
| 5.85 MB | 2019年 12月 17日 | 英語版をダウンロード (Rev.A) | ||
| 5.76 MB | 2019年 12月 16日 | 英語版をダウンロード (Rev.B) | ||
| 78 KB | 2017年 6月 14日 | |||
| 132 KB | 2015年 4月 16日 |
| タイトル | 種類 | サイズ (MB) | 日付 | 英語版 |
|---|---|---|---|---|
| 688 KB | 2018年 2月 1日 | |||
| 1.2 MB | 2017年 4月 4日 | 英語版をダウンロード | ||
| 149 KB | 2016年 11月 8日 | |||
| 3.07 MB | 2016年 8月 1日 | |||
| 2.13 MB | 2016年 3月 31日 |
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