ソース・メジャー・ユニット（SMU）

ソース生成 - ソース計測ユニット（SMU）

TI の IC とリファレンス・デザインは半導体などのデバイスの高精度テストと特性評価のための高精度ソース測定ユニットの設計を可能にします。

次世代ソース測定ユニットの要件：

タイトル	種類	サイズ (KB)	日付	英語版
MUX 対応高精度オペアンプ (Rev. A 翻訳版)	PDF	5.85 MB	2019年 12月 17日	英語版をダウンロード (Rev.A)
ゼロドリフト・アンプ：特長と利点 (Rev. B 翻訳版)	PDF	5.76 MB	2019年 12月 16日	英語版をダウンロード (Rev.B)
Improving Resolution of SAR ADC	PDF	78 KB	2017年 6月 14日
Principles of Data Acquisition and Conversion	PDF	132 KB	2015年 4月 16日

タイトル	種類	サイズ (MB)	日付	英語版
Accounting for delay from multiple sources in delta-sigma ADCs	PDF	688 KB	2018年 2月 1日
Fully integrated signal and power isolation – applications and benefits.	PDF	1.2 MB	2017年 4月 4日	英語版をダウンロード
Enabling Faster, Smarter and Robust Solutions for TI SAR ADCs With multiSPI	PDF	149 KB	2016年 11月 8日
Voltage-reference impact on total harmonic distortion	PDF	3.07 MB	2016年 8月 1日
Minimum Power Specifications for High-Performance ADC Power-Supply Designs	PDF	2.13 MB	2016年 3月 31日

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