超音波スキャナ

超音波システム向け設計リソース / ブロック図

設計上の考慮事項

TI の IC とリファレンス・デザインは、エネルギー効率に優れ、小型フォーム・ファクタで、信号雑音比 (SNR) が高く、画像処理の品質向上に役立つ次世代超音波スキャナの製作に役立ちます。

    革新的な超音波スキャナの一般的な設計要件:

  • 高精度診断に適した高品質画像。
  • 拡張型の時間利得補償 (TGC) に役立つ高精度のシグナル・コンディショニング。
  • 応答性に優れ、直観的に使用できるユーザー制御機能とコネクティビティ。
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技術資料

アプリケーション・ノート

アプリケーション・ノート (7)

タイトル 種類 サイズ (KB) 日付 英語版
PDF 1.9 MB 2020年 9月 30日
PDF 2.8 MB 2020年 9月 2日
PDF 476 KB 2018年 11月 6日
PDF 1.59 MB 2018年 2月 26日
PDF 422 KB 2017年 11月 20日
PDF 488 KB 2017年 4月 26日
PDF 319 KB 2016年 12月 2日

技術記事

設計および開発

名称 型番 会社名 ソフトウェア/ツール・タイプ
AFE5808A Evaluation Module AFE5808AEVM Texas Instruments 評価ボード
AFE5816 評価モジュール AFE5816EVM Texas Instruments 評価ボード
AFE5818 評価モジュール AFE5818EVM Texas Instruments 評価ボード
AFE58JD16 評価モジュール AFE58JD16EVM Texas Instruments 評価ボード
AFE58JD18 評価モジュール AFE58JD18EVM Texas Instruments 評価ボード
VCA2615 評価基板 VCA2615EVM Texas Instruments 評価ボード
VCA2617 評価基板 VCA2617EVM Texas Instruments 評価ボード
VCA5807 評価モジュール VCA5807EVM Texas Instruments 評価ボード

サポートとトレーニング

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