配線テスト(LAN、DSL、ケーブル)

LAN/WAN 試験機器

設計上の考慮事項

LAN (ローカル・エリア・ネットワーク) / WAN (ワイド・エリア・ネットワーク) 信号の振幅とタイミングを分析する際に重要なのは、高帯域幅でダイナミック・レンジの広いフロント・エンドと、低ノイズ・クロックの組み合わせです。TI の IC とリファレンス・デザインは、LAN/WAN 試験装置向けの高性能データ・アクイジションや各種波形生成を実施するフロント・エンドの設計に役立ちます。

    高性能のワイヤレス試験 (LAN、DSL (デジタル加入者回線)、CATV (ケーブル回線)) 装置の一般的な要件:

  • タイミングとノイズ・マージンの測定に役立つ高速データ・コンバータ。
  • タイミング・マージンとジッタ測定値の改善につながる、位相ノイズの小さいクロック。
  • ボード面積の最小化と放熱特性の改善に役立つ、効率的な電源。
  • システムの感度とダイナミック・レンジの改善につながる、低 EMI の電源アーキテクチャ。
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技術資料

アプリケーション・ノート

アプリケーション・ノート (3)

タイトル 種類 サイズ (KB) 日付 英語版
PDF 6.09 MB 2017年 8月 8日
PDF 1.63 MB 2016年 7月 21日
PDF 70 KB 2013年 4月 26日

技術記事

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