UCC5870QEVM-045
UCC5870-Q1 機能安全準拠、15A、絶縁、3 相、IGBT/SiC MOSFET ゲート・ドライバの EVM (評価基板)
UCC5870QEVM-045
概要
UCC5870-Q1 3 相評価基板 (EVM) は、先進的な保護機能を搭載した、TI の 15A 絶縁型シングルチャネル ゲート ドライバを評価するための設計を採用しています。この評価基板 (EVM) は、EV/HV (電気自動車とハイブリッド車) アプリケーションで大電力の SiC MOSFET と IGBT を駆動することを想定しています。この 3 相 EVM (評価基板) は、ドライバのシリアル・ペリフェラル・インターフェイス (SPI) 向けソフトウェアのデバッグと、診断、保護、監視に関するドライバの高度な機能を検討する目的で使用できます。
特長
- 3 相アプリケーションのソフトウェア開発をサポート
- SPI ベースのデバイス再構成、検証、監視、診断機能
- アドレス・モード SPI とデイジーチェーン・モード SPI を両方ともサポート
- パワー・トランジスタ保護機能：パワー トランジスタの障害発生時の DESAT (脱飽和)、OC/SC (開路と短絡)、プログラマブル ソフト ターンオフ (STO)、2 レベル ターンオフ (2LTOFF)
- 分割対応のドライバ出力は、15A のピーク・ソース (供給) 電流と 15A のピーク・シンク (吸い込み) 電流を保証
絶縁型ゲート・ドライバ
購入と開発の開始
評価ボード
UCC5870QEVM-045 — UCC5870-Q1 機能安全準拠、15A、絶縁、3 相、IGBT/SiC MOSFET ゲート・ドライバの EVM (評価基板)
TI.com で取り扱いなし
サポート・ソフトウェア
SLUC707 — UCC5870QEVM-045 Sample Code Software
SLUC707 — UCC5870QEVM-045 Sample Code Software
バージョン: 01.00.00.00
リリース日: 12 7 2021
ハードウェア開発
評価ボード
リリース情報
The design resource accessed as www.ti.com/lit/zip/sluc707 or www.ti.com/lit/xx/sluc707/sluc707.zip has been migrated to a new user experience at www.ti.com/tool/jp/download/SLUC707. Please update any bookmarks accordingly.
設計ファイル
技術資料
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| 種類 | タイトル | 英語版のダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | EVM ユーザー ガイド (英語) | UCC5870-Q1EVM-045 User's Guide | PDF | HTML | 2020年 2月 4日 | ||
| データシート | UCC5870-Q1 30A 絶縁型 IGBT/SiC MOSFET ゲート・ドライバ、車載アプリケーション用先進保護機能付き データシート (Rev. C 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.C) | 2023年 5月 10日 | ||
| 証明書 | UCC5870QEVM-045 EU Declaration of Conformity (DoC) | 2021年 2月 22日 |