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CD4021B-Q1

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製品詳細

Configuration Serial-in, Parallel-out Bits (#) 8 Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 8.5 IOL (max) (mA) 4.2 IOH (max) (mA) -4.2 Supply current (max) (µA) 3000 Features Balanced outputs, Positive input clamp diode, Standard speed (tpd > 50ns) Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Automotive
Configuration Serial-in, Parallel-out Bits (#) 8 Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 8.5 IOL (max) (mA) 4.2 IOH (max) (mA) -4.2 Supply current (max) (µA) 3000 Features Balanced outputs, Positive input clamp diode, Standard speed (tpd > 50ns) Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Automotive
SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6
  • Qualified for Automotive Applications
  • Medium-Speed Operation: 12-MHz (Typ) Clock Rate at VDD – VSS = 10 V
  • Fully Static Operation
  • Eight Master-Slave Flip-Flops Plus Output Buffering and Control Gating
  • 100% Tested for Quiescent Current at 20 V
  • Maximum Input Current of 1 µA at 18 V Over Full Package-Temperature Range:
    100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise Margin (Full Package-Temperature Range):
    • 1 V at VDD = 5 V
    • 2 V at VDD = 10 V
    • 2.5 V at VDD = 15 V
  • Standardized Symmetrical Output Characteristics
  • 5-V, 10-V, and 15-V Parametric Ratings
  • Meets All Requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B,
    "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices"
  • Latch-Up Performance Meets 50 mA per JESD 78, Class I
  • APPLICATIONS
    • Parallel Input/Serial Output Data Queuing
    • Parallel-to-Serial Data Conversion
    • General-Purpose Register
  • Qualified for Automotive Applications
  • Medium-Speed Operation: 12-MHz (Typ) Clock Rate at VDD – VSS = 10 V
  • Fully Static Operation
  • Eight Master-Slave Flip-Flops Plus Output Buffering and Control Gating
  • 100% Tested for Quiescent Current at 20 V
  • Maximum Input Current of 1 µA at 18 V Over Full Package-Temperature Range:
    100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise Margin (Full Package-Temperature Range):
    • 1 V at VDD = 5 V
    • 2 V at VDD = 10 V
    • 2.5 V at VDD = 15 V
  • Standardized Symmetrical Output Characteristics
  • 5-V, 10-V, and 15-V Parametric Ratings
  • Meets All Requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B,
    "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices"
  • Latch-Up Performance Meets 50 mA per JESD 78, Class I
  • APPLICATIONS
    • Parallel Input/Serial Output Data Queuing
    • Parallel-to-Serial Data Conversion
    • General-Purpose Register

CD4021B series types are 8-stage parallel- or serial-input/serial output registers having common CLOCK and PARALLEL/SERIAL CONTROL inputs, a single SERIAL data input, and individual parallel "JAM" inputs to each register stage. Each register stage is a D-type, master-slave flip-flop. In addition to an output from stage 8, "Q" outputs are also available from stages 6 and 7. Parallel as well as serial entry is made into the register synchronously with the positive clock line transition in the CD4014B. In the CD4021B serial entry is synchronous with the clock but parallel entry is asynchronous. In both types, entry is controlled by the PARALLEL/SERIAL CONTROL input. When the PARALLEL/SERIAL CONTROL input is low, data is serially shifted into the 8-stage register synchronously with the positive transition of the clock line. When the PARALLEL/SERIAL CONTROL input is high, data is jammed into the 8-stage register via the parallel input lines and synchronous with the positive transition of the clock line. In the CD4021B, the CLOCK input of the internal stage is "forced" when asynchronous parallel entry is made. Register expansion using multiple packages is permitted.

The CD4021B series types are supplied in 16-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (D and F suffixes), 16-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), and in chip form (H suffix).

CD4021B series types are 8-stage parallel- or serial-input/serial output registers having common CLOCK and PARALLEL/SERIAL CONTROL inputs, a single SERIAL data input, and individual parallel "JAM" inputs to each register stage. Each register stage is a D-type, master-slave flip-flop. In addition to an output from stage 8, "Q" outputs are also available from stages 6 and 7. Parallel as well as serial entry is made into the register synchronously with the positive clock line transition in the CD4014B. In the CD4021B serial entry is synchronous with the clock but parallel entry is asynchronous. In both types, entry is controlled by the PARALLEL/SERIAL CONTROL input. When the PARALLEL/SERIAL CONTROL input is low, data is serially shifted into the 8-stage register synchronously with the positive transition of the clock line. When the PARALLEL/SERIAL CONTROL input is high, data is jammed into the 8-stage register via the parallel input lines and synchronous with the positive transition of the clock line. In the CD4021B, the CLOCK input of the internal stage is "forced" when asynchronous parallel entry is made. Register expansion using multiple packages is permitted.

The CD4021B series types are supplied in 16-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (D and F suffixes), 16-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), and in chip form (H suffix).
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート CD4021B-Q1 CMOS 8-Stage Static Shift Register データシート 2010年 3月 26日
アプリケーション・ノート Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) PDF | HTML 2022年 12月 15日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
その他の技術資料 車載用ロジック・デバイス 英語版 2015年 2月 4日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
ユーザー・ガイド Signal Switch Data Book (Rev. A) 2003年 11月 14日
アプリケーション・ノート Understanding Buffered and Unbuffered CD4xxxB Series Device Characteristics 2001年 12月 3日

設計と開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
パッケージ ピン数 ダウンロード
SOIC (D) 16 オプションの表示
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購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 材質成分
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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