SN74AHCT74Q-Q1
- Qualified for Automotive Applications
- Inputs Are TTL-Voltage Compatible
- EPIC™ (Enhanced-Performance Implanted CMOS) Process
- Latch-Up Performance Exceeds 250 mA Per JESD 17
- ESD Protection Exceeds 2000 V Per MIL-STD-883, Method 3015;
Exceeds 200 V Using Machine Model (C = 200 pF, R = 0)
EPIC is a trademark of Texas Instruments.
The SN74AHCT74Q is a dual positive-edge-triggered D-type flip-flop.
A low level at the preset (PRE) or clear (CLR) inputs sets or resets the outputs, regardless of the levels of the other inputs. When PRE and CLR are inactive (high), data at the data (D) input meeting the setup time requirements is transferred to the outputs on the positive-going edge of the clock pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the rise time of the clock pulse. Following the hold-time interval, data at the D input can be changed without affecting the levels at the outputs.
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技術資料
設計と開発
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14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板
14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。
パッケージ | ピン数 | ダウンロード |
---|---|---|
SOIC (D) | 14 | オプションの表示 |
TSSOP (PW) | 14 | オプションの表示 |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 材質成分
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点