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SN54SC4T125-SEP

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Radiation tolerant, four-bit fixed-direction level translator

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製品詳細

Technology family SCxT Applications GPIO Bits (#) 4 Configuration 4 Ch A to B 0 Ch B to A High input voltage (min) (V) 1 High input voltage (max) (V) 5.5 Vout (min) (V) 0 Vout (max) (V) 5.5 Data rate (max) (Mbps) 100 IOH (max) (mA) -16 IOL (max) (mA) -16 Supply current (max) (µA) 5.5 Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Voltage translation Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family SCxT Applications GPIO Bits (#) 4 Configuration 4 Ch A to B 0 Ch B to A High input voltage (min) (V) 1 High input voltage (max) (V) 5.5 Vout (min) (V) 0 Vout (max) (V) 5.5 Data rate (max) (Mbps) 100 IOH (max) (mA) -16 IOL (max) (mA) -16 Supply current (max) (µA) 5.5 Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Voltage translation Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4

  • VID V62/23631-01XE

  • 放射線耐性

    • 125℃において 43MeV-cm 2/mg のシングル イベント ラッチアップ (SEL) 耐性

    • すべてのウェハー ロットについての 30krad(Si) までの吸収線量耐性放射線ロット受け入れテスト (TID RLAT)

    • シングル イベント過渡 (SET) 特性：LET = 43MeV-cm 2/mg (最大値)

  • 広い動作範囲：1.2V～5.5V

  • 単一電源電圧レベル シフタ：

    • 昇圧変換：

      • 1.2V から 1.8V

      • 1.5V から 2.5V

      • 1.8V から 3.3V

      • 3.3V から 5.0V

    • 降圧変換：

      • 5.0V、3.3V、2.5V から 1.8V
      • 5.0V、3.3V から 2.5V
      • 5.0V から 3.3V
  • 5.5V 許容入力ピン
  • 標準ピン配置をサポート
  • 5V または 3.3V の V CC で最大 150Mbps
  • JESD 17 準拠で 250mA 超のラッチアップ性能

  • 宇宙向けに強化されたプラスチック

    • 管理されたベースライン

    • Au ボンド・ワイヤと NiPdAu リード仕上げ

    • NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合

    • 単一の製造、アセンブリ、テスト施設

    • 長い製品ライフ・サイクル

    • 製品のトレーサビリティ

  • VID V62/23631-01XE

  • 放射線耐性

    • 125℃において 43MeV-cm 2/mg のシングル イベント ラッチアップ (SEL) 耐性

    • すべてのウェハー ロットについての 30krad(Si) までの吸収線量耐性放射線ロット受け入れテスト (TID RLAT)

    • シングル イベント過渡 (SET) 特性：LET = 43MeV-cm 2/mg (最大値)

  • 広い動作範囲：1.2V～5.5V

  • 単一電源電圧レベル シフタ：

    • 昇圧変換：

      • 1.2V から 1.8V

      • 1.5V から 2.5V

      • 1.8V から 3.3V

      • 3.3V から 5.0V

    • 降圧変換：

      • 5.0V、3.3V、2.5V から 1.8V
      • 5.0V、3.3V から 2.5V
      • 5.0V から 3.3V
  • 5.5V 許容入力ピン
  • 標準ピン配置をサポート
  • 5V または 3.3V の V CC で最大 150Mbps
  • JESD 17 準拠で 250mA 超のラッチアップ性能

  • 宇宙向けに強化されたプラスチック

    • 管理されたベースライン

    • Au ボンド・ワイヤと NiPdAu リード仕上げ

    • NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合

    • 単一の製造、アセンブリ、テスト施設

    • 長い製品ライフ・サイクル

    • 製品のトレーサビリティ

SN54SC4T125-SEP は、4 つの独立した 3 ステート出力付きバッファを内蔵し、広い電圧範囲で動作してレベル変換を実現します。各バッファはブール関数 Y = A を正論理で実行します。 OE ピンに HIGH を印加することで、出力をハイ・インピーダンス (Hi-Z) 状態にできます。出力レベルは電源電圧 (V CC) を基準としており、1.8V、2.5V、3.3V、5V の CMOS レベルをサポートしています。

入力は低スレッショルド回路を使用して設計され、低電圧 CMOS 入力の昇圧変換 (例：1.2V 入力から 1.8V 出力、1.8V 入力から 3.3V 出力) をサポートします。また、5V 許容入力ピンにより、降圧変換 (例：3.3V から 2.5V 出力) が可能です。

SN54SC4T125-SEP は、4 つの独立した 3 ステート出力付きバッファを内蔵し、広い電圧範囲で動作してレベル変換を実現します。各バッファはブール関数 Y = A を正論理で実行します。 OE ピンに HIGH を印加することで、出力をハイ・インピーダンス (Hi-Z) 状態にできます。出力レベルは電源電圧 (V CC) を基準としており、1.8V、2.5V、3.3V、5V の CMOS レベルをサポートしています。

入力は低スレッショルド回路を使用して設計され、低電圧 CMOS 入力の昇圧変換 (例：1.2V 入力から 1.8V 出力、1.8V 入力から 3.3V 出力) をサポートします。また、5V 許容入力ピンにより、降圧変換 (例：3.3V から 2.5V 出力) が可能です。
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN54SC4T125-SEP 耐放射線特性、単電源 4 バッファ トランスレータ ゲート、3 ステート出力 CMOS ロジック レベル シフタ付き データシート PDF | HTML 英語版 PDF | HTML 2023年 11月 15日
* 放射線と信頼性レポート SN54SC4T125-SEP Single Event Effects Report PDF | HTML 2023年 12月 5日
* 放射線と信頼性レポート SN54SC4T125-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report PDF | HTML 2023年 12月 1日
* 放射線と信頼性レポート SN54SC4T125-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 2023年 11月 9日

設計と開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
パッケージ ピン数 ダウンロード
TSSOP (PW) 14 オプションの表示
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 材質成分
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

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