TS5N118
- Low and Flat ON-State Resistance (ron) Characteristics Over Operating Range (ron = 3 Typ)
- 0- to 10-V Switching on Data I/O Ports
- Bidirectional Data Flow With Near-Zero Propagation Delay
- Low Input/Output Capacitance Minimizes Loading and Signal Distortion (Cio(OFF) = 20 pF Max, B Port)
- VCC Operating Range From 4.75 V to 5.25 V
- Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
- ESD Performance Tested Per JESD 22
- 2000-V Human-Body Model
(A114-B, Class II) - 1000-V Charged-Device Model (C101)
- 2000-V Human-Body Model
- Supports Both Digital and Analog Applications
- APPLICATIONS
- PCI Interface
- Differential Signal Interface
- Memory Interleaving
- Bus Isolation
- Low-Distortion Signal Gating
The TS5N118 is a high-bandwidth FET bus switch utilizing a charge pump to elevate the gate voltage of the pass transistor, providing a low and flat ON-state resistance (ron). The low and flat ON-state resistance allows for minimal propagation delay and supports rail-to-rail switching on the data input/output (I/O) ports. The device also features low data I/O capacitance to minimize capacitive loading and signal distortion on the data bus. Specifically designed to support high-bandwidth applications, the TS5N118 provides an optimized interface solution ideally suited for broadband communications, networking, and data-intensive computing systems.
The TS5N118 is a 1-of-8 multiplexer/demultiplexer with a single output-enable (OE) input. The select (S0, S1, S2) inputs control the data path of the multiplexer/demultiplexer. When OE is low, the multiplexer/demultiplexer is enabled and the A port is connected to the B port, allowing bidirectional data flow between ports. When OE is high, the multiplexer/demultiplexer is disabled and a high-impedance state exists between the A and B ports.
This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry prevents damaging current backflow through the device when it is powered down. The device has isolation during power off.
To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
---|---|---|---|---|---|---|
* | データシート | TS5N118 データシート | 2005年 7月 28日 | |||
アプリケーション・ノート | Selecting the Correct Texas Instruments Signal Switch (Rev. E) | PDF | HTML | 2022年 6月 2日 | |||
アプリケーション・ノート | Multiplexers and Signal Switches Glossary (Rev. B) | PDF | HTML | 2021年 12月 1日 | |||
アプリケーション・ノート | Preventing Excess Power Consumption on Analog Switches | 2008年 7月 3日 | ||||
アプリケーション・ノート | Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection | 2004年 7月 8日 |
設計と開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
LEADED-ADAPTER1 — TI の 5、8、10、16、24 ピン・リード付きパッケージの迅速なテスト向けの表面実装から DIP ヘッダーへのアダプタ
EVM-LEADED1 ボードは、TI の一般的なリード付きパッケージによる迅速なテストとブレッド・ボードへの対応を可能にします。 TI の D、DBQ、DCT、DCU、DDF、DGS、DGV、PW 表面実装パッケージを 100mil DIP ヘッダに変換するフットプリントを用意しています。
パッケージ | ピン数 | ダウンロード |
---|---|---|
SSOP (DBQ) | 16 | オプションの表示 |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 材質成分
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点