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製品の詳細

パラメータ

Resolution (Bits) 18 Number of input channels 1 Sample rate (Max) (kSPS) 1000 Interface type Enhanced SPI, SPI Architecture SAR Input type Differential Multi-channel configuration Rating Catalog Reference mode Ext Input range (Max) (V) 5 Input range (Min) (V) -5 Features Daisy-Chainable, Oscillator Operating temperature range (C) -40 to 125 Power consumption (Typ) (mW) 21 Analog voltage AVDD (Min) (V) 3 SNR (dB) 102.5 Analog voltage AVDD (Max) (V) 5.5 INL (Max) (+/-LSB) 1.5 Digital supply (Min) (V) 1.65 Digital supply (Max) (V) 5.5 open-in-new その他の 高精度 ADCs (<=10MSPS)

パッケージ|ピン|サイズ

VQFN (RGE) 24 16 mm² 4 x 4 open-in-new その他の 高精度 ADCs (<=10MSPS)

特長

  • 分解能: 18ビット
  • 高いサンプリング・レートとレイテンシなしの出力
    • ADS8910B: 1MSPS
    • ADS8912B: 500kSPS
    • ADS8914B: 250kSPS
  • LDO搭載により単一電源で動作可能
  • 低消費電力でドループなしのリファレンス・バッファ
  • 非常に優れたACおよびDC性能
    • SNR: 102.5dB、THD: -125dB
    • INL: ±0.5 LSB
    • DNL: ±0.2 LSB、18ビット、ノー・ミッシング・コード
  • 広い入力電圧範囲
    • ユニポーラ差動入力電圧範囲: ±VREF
    • VREF入力電圧範囲: 2.5V~5V
  • 単一電源、低消費電力の動作
    (内部リファレンス・バッファおよびLDOを含む)
    • ADS8910B: 1MSPSで21mW
    • ADS8912B: 500kSPSで16mW
    • ADS8914B: 250kSPSで14mW
  • 拡張SPIデジタル・インターフェイス
    • インターフェイスSCLK: 1MSPSで20MHz
    • 構成可能なデータ・パリティ出力
  • 拡張温度範囲: –40℃~+125℃
  • 小さな占有面積: 4mm×4mm VQFN

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open-in-new その他の 高精度 ADCs (<=10MSPS)

概要

ADS8910B、ADS8912B、ADS8914B (ADS891xB)は、ピン互換の高速、シングル・チャネル、高精度の18ビット逐次比較型(SAR)アナログ/デジタル・コンバータ(ADC)ファミリに属し、リファレンス・バッファと低ドロップアウト・レギュレータ(LDO)が搭載されています。このデバイス・ファミリには、ADS890xB (20ビット)およびADS892xB (16ビット)の分解能バリエーションが含まれます。

ADS891xBはTIの拡張SPI機能を使用し、アナログ性能の向上とともに、データ転送の高い分解能を維持します。ADS89xxBは、拡張SPIにより低いクロック速度で高いスループットを達成できるため、基板のレイアウトを簡素化し、システムのコストを低減できます。また、拡張SPIによってデータのクロックインも簡素化されるため、このデバイスはFPGAやDSPに関わるアプリケーションに理想的です。ADS89xxBは、標準のSPIインターフェイスと互換性があります。

ADS891xBには内部データ・パリティ機能があり、ADCデータ出力にパリティを追加できます。パリティ・ビットを使用してホストでADCデータを検証することにより、システムの信頼性が向上します。

open-in-new その他の 高精度 ADCs (<=10MSPS)
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技術資料

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種類 タイトル 英語版のダウンロード 日付
* データシート ADS891xB 18ビット、リファレンス・バッファ内蔵、 拡張性能機能搭載、高速SAR ADC データシート (Rev. B 翻訳版) 英語版をダウンロード (Rev.B) 2018年 4月 23日
アプリケーション・ノート 高電圧バッテリ・モニタ回路:±20V、0 ~ 10kHz、18 ビット、完全差動 (Rev. A 翻訳版) 英語版をダウンロード (Rev.A) 2019年 6月 24日
アプリケーション・ノート 大電流バッテリ・モニタ回路:0~10A、0~10kHz、18 ビット 英語版をダウンロード 2019年 4月 25日
アプリケーション・ノート Attenuator amplifier design to maximize differential ADCs input voltage 2018年 6月 14日
アプリケーション・ノート Improving Input Settling for High-Speed, High-Resolution SAR ADCs 2017年 12月 12日
アプリケーション・ノート Optimizing Data Transfer on High-Resolution, High-Throughput SAR ADCs 2017年 12月 12日
アプリケーション・ノート Enhanced SPI Tech Note 2017年 12月 11日
ホワイト・ペーパー Enabling Faster, Smarter and Robust Solutions for TI SAR ADCs With multiSPI 2016年 11月 8日
ユーザー・ガイド ADS8910BEVM-PDK User's Guide 2016年 7月 1日
その他の技術資料 ADS8910EVM-PDK Quick Start Guide 2016年 3月 16日
アプリケーション・ノート 高速データ変換 英語版をダウンロード 2009年 12月 11日
アプリケーション・ノート データ収集と A/D 変換の原理 最新の英語版をダウンロード (Rev.A) 2009年 8月 5日
アプリケーション・ノート データ・コンバータのドリフトに関する設計者の必須知識: 最悪劣化度の構成要素を理解して仕様の条件を減らす 英語版をダウンロード 2009年 4月 22日
アプリケーション・ノート アナログ・デジタルの仕様とパフォーマンス特性の用語集 (Rev. A 翻訳版) 最新の英語版をダウンロード (Rev.B) 2008年 1月 18日

設計と開発

追加の事項や他のリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックすると、詳細ページを表示できます。

ハードウェア開発

評価基板 ダウンロード
document-generic ユーザー・ガイド
149
概要

The ADS8910B evaluation module (EVM) performance demonstration kit (PDK) is a platform for evaluating the performance of the ADS8910B successive-approximation register (SAR) analog-to-digital converter (ADC). The ADS8910EVM-PDK includes the ADS8910B EVM board and precision host interface (...)

特長
  • Includes hardware and software required for diagnostic testing, as well as accurate performance evaluation of the ADS8910B ADC
  • USB powered; no external power supply required
  • PHI controller provides convenient communication interface to ADS8910B ADC over a USB 2.0 (or higher) for power delivery, as (...)

ソフトウェア開発

サポート・ソフトウェア ダウンロード
SBAC183.ZIP (103 KB)

設計ツールとシミュレーション

シミュレーション・モデル ダウンロード
SBAM275.ZIP (22 KB) - IBIS Model
シミュレーション・モデル ダウンロード
SBAM276.TSM (24 KB) - TINA-TI Spice Model
シミュレーション・モデル ダウンロード
SBAM277.TSC (7079 KB) - TINA-TI Reference Design
シミュレーション・モデル ダウンロード
SBAM340.ZIP (136 KB) - TINA-TI Spice Model
シミュレーション・ツール ダウンロード
PSpice® for TI design and simulation tool
PSPICE-FOR-TI PSpice® for TI は、各種アナログの機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けのツールです。  さまざまな機能を持ち、設計とシミュレーションに適したこのツールは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償でご使用いただけます。アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象に、業界でも有数の大規模な PSpice モデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。 

はじめに

  • PSpice for TI ツールへのアクセスの申請
  • ツールのダウンロードとインストール
  • シミュレーション方法説明ビデオのご視聴

PSpice for TI ツールを使用すると、内蔵のモデル・ライブラリを使用して、複雑な設計のシミュレーションを実施することができます。完成度の高い最終機器を設計し、レイアウトの確定や製造開始より前に、ソリューションのプロトタイプを製作することができます。この結果、市場投入期間の短縮と開発コストの削減を実現できます。 

設計とシミュレーション向けのツールである PSpice for TI の環境内で、各種 TI デバイスの検索、製品ラインアップの参照、テスト・ベンチの起動、設計のシミュレーションを実施し、選定したデバイスをさらに分析することができます。また、複数の TI デバイスを組み合わせてシミュレーションを実行することもできます。

事前ロード済みの PSpice モデルで構成されたライブラリ全体に加えて、ツール内で各種 TI 製品情報に簡単にアクセスすることもできます。開発中のアプリケーションに適したデバイスを選定できたことを確認した後、TI 製品の購入ページにアクセスして、その製品を購入することができます。

PSpice for TI を使用すると、回路の検討から設計の開発や検証まで、作業の進展に合わせて設計サイクルの各段階で、シミュレーションのニーズに適した各種ツールにアクセスできます。  コスト不要で入手でき、開発を容易に開始できます。設計とシミュレーションに適した PSpice スイートをダウンロードして、今すぐ設計を開始してください。
特長
  • 電源とシグナル・チェーンに関する TI の製品ラインアップを網羅する、各種 PSpice モデルで構成された事前インストール済みライブラリ
  • 動的更新により、最新のデバイス・モデルに確実にアクセス可能
  • 精度の低下を招かずに、シミュレーション速度を重視して最適化済み
  • 複数製品の同時分析をサポート
  • Cadence の PSpice テクノロジーを活用
  • OrCAD Capture フレームワークを土台とし、業界で最も幅広く使用されている回路図のキャプチャとシミュレーションの環境へのアクセスを実現
  • オフライン作業に対応し、柔軟性のあるスタンドアロン・ツール
シミュレーション・ツール ダウンロード
計算ツール ダウンロード
Analog-to-digital converter (ADC) input driver design tool supporting multiple input types
ADC-INPUT-CALC ADC-INPUT-CALC は A/D コンバータ(ADC)に対する入力バッファの設計をサポートするオンライン・ツールです。ADC 入力の駆動に使用可能な 24 種類のオペアンプ・ベース・バッファ回路を用意しています。使用可能なトポロジーは差動、シングルエンド、トランス結合型入力です。AC 結合型と DC 結合型の設計、単一電源とデュアル電源トポロジーをサポートしています。Beginner モードと Expert モードの 2 つのモードを提供しています。Beginner モードでは質問に対する答えが用意されています。さらに、ソリューションの回路図が表示されます。場合によってはソリューションのオプション・バージョンが複数表示されます。Expert モードでは使用可能な 24 ソリューションすべてがブロック図の形で表示されます。希望のトポロジーをクリックするだけで、ソリューションの回路図にジャンプできます。この回路図には設計の主要な特長の概要が記載されています。場合によっては別のビルトイン・ユーティリティへのリンクも表示され、コンポーネント選択をさらに調整することが可能です。
計算ツール ダウンロード
アナログ技術者向けカリキュレータ
ANALOG-ENGINEER-CALC — アナログ・エンジニア向けカリキュレータは、アナログ回路設計エンジニアが日常的に繰り返し行っている計算の多くを迅速化します。この PC ベース・ツールはグラフィカル・インターフェイスにより、帰還抵抗を使用したオペアンプのゲイン設定から、A/D コンバータ(ADC)のドライブ・バッファ回路の安定化に最適な部品の選択に至るまで、一般的に行われている各種計算のリストを表示します。スタンドアロン・ツールとして使用できるほか、『アナログ回路設計式一覧ポケット・ガイド』で説明されているコンセプトと組み合わせることもできます。
特長
  • A/D コンバータ(ADC)と D/A コンバータ(DAC)の回路設計を迅速化
    • ノイズの計算
    • 一般的な単位変換
  • アンプ回路設計の一般的な問題を解決
    • 標準的な抵抗を使用してゲインを選択
    • フィルタの構成
    • 一般的なアンプ構成の総ノイズ
  • PCB 寄生成分の計算(R、L、C など)
  • 一般的なセンサのセンサ出力値の算定(RTD、熱電対など)
  • 受動回路の一般的な問題を解決(受動部品を使用する電圧デバイダなど)

リファレンス・デザイン

リファレンス・デザイン ダウンロード
LVDS インターフェイス経由で SPI 信号を送信するリファレンス・デザイン
TIDA-060017 — This TI Design demonstrates how to resolve and optimize signal integrity challenges typically found when sending SPI signals over longer distance on the same PCB or off PCB to another board in a noisy environment by transmitting SPI signals over LVDS interface. The concept offers high noise (...)
document-generic 回路 document-generic ユーザー・ガイド document-generic 英語版をダウンロード
リファレンス・デザイン ダウンロード
自動試験装置向け、FPGA 使用とデータ・スループットを最適化するリファレンス・デザイン
TIDA-01051 — TIDA-01051 リファレンス・デザインは、自動試験機器(ATE)などの非常にチャネル数の多いデータ・アクイジション(DAQ)システムのチャネル密度、統合、消費電力、クロック・ディストリビューション、シグナル・チェーン性能を最適化します。TI の DS90C383B などのシリアライザを使用して、多くの同時サンプリング ADC の出力を複数の LVDS ラインに組み合わせることにより、ホスト FPGA が処理する必要のあるピン数を大幅に低減できます。  その結果、単一 FPGA による非常に多くの DAQ チャネル処理が可能になり、ボード配線の複雑さを大幅に軽減できます。
document-generic 回路 document-generic ユーザー・ガイド document-generic 英語版をダウンロード
リファレンス・デザイン ダウンロード
18 ビット SAR(逐次比較型)データ・コンバータ向けに最適化されたアナログ・フロント・エンド DAQ(データ・アクイジション)システムのリファレンス・デザイン
TIDA-01050 — TIDA-01050 リファレンス・デザインは自動試験機器に付随する、統合、消費電力、性能、クロッキングの課題を改善します。いかなる ATE(自動試験機器)にも使用できますが、多数の入力チャネルを必要とするシステムに特に最適です。
document-generic 回路 document-generic ユーザー・ガイド
リファレンス・デザイン ダウンロード
負電源を使用してフルスケール THD を改善する ADC ドライバのリファレンス・デザイン
TIDA-01052 — TIDA-01052 リファレンス・デザインは、アナログ・フロント・エンド・ドライバ・アンプでグランドの代わりに負の電圧レールを使用する際に見られるシステム性能の向上を実現します。このコンセプトはすべてのアナログ・フロント・エンドに該当しますが、ここでは特に自動試験機器を対象としています。
document-generic 回路 document-generic ユーザー・ガイド
リファレンス・デザイン ダウンロード
試験 / 計測向け、20 ビット、1MSPS、4 チャネル、小型フォーム・ファクタ設計のリファレンス・デザイン
TIPD211 — End equipment such as mixed signal SOC testers, memory testers, battery testers, liquid-crystal display (LCD) testers, benchtop equipment, high-density digital cards, high-density power cards, x-Ray, MRI, and so forth require multiple, fast, simultaneous sampling channels with excellent DC and AC (...)
document-generic 回路 document-generic ユーザー・ガイド

CAD/CAE シンボル

パッケージ ピン数 ダウンロード
VQFN (RGE) 24 オプションの表示

購入と品質

サポートとトレーニング

TI E2E™ Forums (英語) では、TI のエンジニアからの技術サポートが活用できます

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関する質問は、TI サポートのページをご覧ください。

トレーニング・シリーズ

TI のトレーニングとビデオをすべて表示

ビデオ

関連ビデオ