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AFE11612-SEP

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耐放射線特性、温度センサと DAC 向け 12 チャネル と ADC 向け 16 チャネルを搭載、12 ビット・アナログ・フロント・エンド

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AFE11612-SEP

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製品詳細

Number of ADC channels 16 ADC resolution (Bps) 12 Number of DAC channels 12 DAC resolution (bps) 12 Temperature sensing Local, Remote Number of GPIOs 8 Interface type I2C, SPI Features GPIO Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space ADC sampling rate (ksps) 500 ADC analog input range (min) (V) -5 ADC analog input range (max) (V) 5 DAC settling time (µs) 2 DAC output full-scale (min) (V) 0 DAC output full-scale (max) (V) 12.5
Number of ADC channels 16 ADC resolution (Bps) 12 Number of DAC channels 12 DAC resolution (bps) 12 Temperature sensing Local, Remote Number of GPIOs 8 Interface type I2C, SPI Features GPIO Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space ADC sampling rate (ksps) 500 ADC analog input range (min) (V) -5 ADC analog input range (max) (V) 5 DAC settling time (µs) 2 DAC output full-scale (min) (V) 0 DAC output full-scale (max) (V) 12.5
HTQFP (PAP) 64 144 mm² 12 x 12
  • 放射線耐性：
    • LET = 43MeV-cm 2/mg (125℃) まで、SEL (Single-event latch-up) 耐性
    • LET = 43MeV-cm 2/mg まで、SEFI (Single-Event Functional Interrupt) 特性を評価済み
    • 20krad (Si) まで、総吸収線量 (TID) RLAT/RHA 特性を評価済み
  • 宇宙用強化プラスチック (宇宙用 EP)：
    • ASTM E595 アウトガス仕様に適合
    • VID (Vendor Item Drawing) V62/22614
    • 軍用温度範囲：-55℃～+125℃
    • 単一の製造、アセンブリ、テスト施設
    • 金ボンド・ワイヤ、NiPdAu リード仕上げ
    • ウェハ・ロットをトレース可能
    • 長い製品ライフ・サイクル
  • 12 個の単調性 12 ビット DAC
    • 出力電圧範囲：0V～5V
    • ユーザー定義の DAC シャットダウン・レベル
  • 16 入力、12 ビット逐次比較型 (SAR) ADC
    • 高いサンプル・レート：500kSPS
    • 16 個のシングルエンド入力、 または 2 個の差動入力と 12 個のシングルエンド入力
    • 範囲外アラームをプログラム可能
  • 8 ピン GPIO
  • 内部 2.5V リファレンス
  • 2 つのリモート温度センサ
  • 内部温度センサ
  • 設定可能な SPI および I 2C インターフェイス
    • 2.7V～5.5V で動作
  • 放射線耐性：
    • LET = 43MeV-cm 2/mg (125℃) まで、SEL (Single-event latch-up) 耐性
    • LET = 43MeV-cm 2/mg まで、SEFI (Single-Event Functional Interrupt) 特性を評価済み
    • 20krad (Si) まで、総吸収線量 (TID) RLAT/RHA 特性を評価済み
  • 宇宙用強化プラスチック (宇宙用 EP)：
    • ASTM E595 アウトガス仕様に適合
    • VID (Vendor Item Drawing) V62/22614
    • 軍用温度範囲：-55℃～+125℃
    • 単一の製造、アセンブリ、テスト施設
    • 金ボンド・ワイヤ、NiPdAu リード仕上げ
    • ウェハ・ロットをトレース可能
    • 長い製品ライフ・サイクル
  • 12 個の単調性 12 ビット DAC
    • 出力電圧範囲：0V～5V
    • ユーザー定義の DAC シャットダウン・レベル
  • 16 入力、12 ビット逐次比較型 (SAR) ADC
    • 高いサンプル・レート：500kSPS
    • 16 個のシングルエンド入力、 または 2 個の差動入力と 12 個のシングルエンド入力
    • 範囲外アラームをプログラム可能
  • 8 ピン GPIO
  • 内部 2.5V リファレンス
  • 2 つのリモート温度センサ
  • 内部温度センサ
  • 設定可能な SPI および I 2C インターフェイス
    • 2.7V～5.5V で動作

AFE11612-SEP は、高密度の汎用モニタおよび制御システム用に設計された、高集積のアナログ・モニタおよび制御デバイスです。このデバイスには、12 ビットの D/A コンバータ (DAC) が 12 個と、16 チャネル、12 ビットの A/Dコンバータ (ADC) が搭載されています。さらに、8 つの汎用入出力 (GPIO)、2 つのリモート温度センサ・チャネル、およびローカル温度センサ・チャネルも内蔵されています。

このデバイスには、DAC の出力電圧を 0V～5V の範囲に規定する 2.5V の内蔵基準電圧があり、また、外部基準電圧を使用した動作もサポートしています。このデバイスに対しては、SPI 互換と I 2C 互換、2 種類のインターフェイス経由での通信が可能です。

本デバイスの高集積は、部品点数の大幅な低減や、閉ループ・システム設計の簡素化に貢献します。これにより、放射線耐性やボード面積を重視する高密度アプリケーションにとって、優れた選択肢になっています。

AFE11612-SEP は、高密度の汎用モニタおよび制御システム用に設計された、高集積のアナログ・モニタおよび制御デバイスです。このデバイスには、12 ビットの D/A コンバータ (DAC) が 12 個と、16 チャネル、12 ビットの A/Dコンバータ (ADC) が搭載されています。さらに、8 つの汎用入出力 (GPIO)、2 つのリモート温度センサ・チャネル、およびローカル温度センサ・チャネルも内蔵されています。

このデバイスには、DAC の出力電圧を 0V～5V の範囲に規定する 2.5V の内蔵基準電圧があり、また、外部基準電圧を使用した動作もサポートしています。このデバイスに対しては、SPI 互換と I 2C 互換、2 種類のインターフェイス経由での通信が可能です。

本デバイスの高集積は、部品点数の大幅な低減や、閉ループ・システム設計の簡素化に貢献します。これにより、放射線耐性やボード面積を重視する高密度アプリケーションにとって、優れた選択肢になっています。
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技術資料

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* データシート AFE11612-SEP マルチチャネルの ADC、DAC、および温度センサ搭載放射線耐性のあるアナログ・モニタおよびコントローラ データシート (Rev. A 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.A) PDF | HTML 2023年 10月 2日
* 放射線と信頼性レポート AFE11612-SEP Single-Event Effects (SEE) Test Report (Rev. A) 2023年 9月 1日
* 放射線と信頼性レポート AFE11612-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. B) 2023年 1月 26日
* 放射線と信頼性レポート AFE11612-SEP Reliability and Production Flow Chart (Rev. A) PDF | HTML 2022年 12月 23日
アプリケーション・ノート Laser Biasing and Optical Communication Applications with the AFE11612-SEP PDF | HTML 2023年 8月 30日
アプリケーション・ノート Biasing GaN and LDMOS RF Power Amplifiers in Aerospace Apps Using AFE11612-SEP PDF | HTML 2023年 6月 29日
EVM ユーザー ガイド (英語) AFE11612EVM User's Guide PDF | HTML 2023年 3月 14日
証明書 AFE11612EVM EU RoHS Declaration of Conformity (DoC) 2023年 2月 1日

設計と開発

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評価ボード

AFE11612EVM — AFE11612-SEP 温度センサ搭載、12 ビット・アナログ・フロント・エンド (AFE) の評価基板

AFE11612EVM は、AFE11612-SEP デバイスの機能と性能を評価するための使いやすいプラットフォームです。AFE11612 -SEP は、高集積、低消費電力の包括的なアナログ・モニタ / コントローラであり、16 チャネル (12 ビット) の A/D コンバータ (ADC)、12 チャネル (12 ビット) の D/A コンバータ (DAC)、8 個の GPIO、2 個のリモート温度センサ・チャネル、1 個のローカル温度センサ・チャネルを搭載しています。また、このデバイスは、入力電圧が範囲外であることを通知するアラームや、5V と 3V の各ロジック電圧に対応し、SPI と (...)

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シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
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HTQFP (PAP) 64 オプションの表示
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 材質成分
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。

サポートとトレーニング

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